[SILVACO ATLAS]a-IGZO薄膜晶體管二維器件仿真(06)


在知網看到了江南大學的碩士論文:

雙有源層a-IGZO薄膜晶體管的特性仿真

IGZO/IZO雙有源層薄膜晶體管特性的模擬研究

發現,我昨天的文章中參數的設置存在重大失誤,如下材料定義語句中:

material material=igzo eg300=3.5 nc300=8.5e21 nv300=8.5e21 taun0=1e-9 taup0=1e-9 affinity=4.35 mup=1 mun=35

eg300:禁帶寬度

nc300/nv300:effective density of states for electrons and holes

taun0/taup0:electron and hole lifetimes(載流子壽命)

affinity:電子親和勢

mup/mun:electron and hole mobilities(兩種載流子的遷移率)

上述已在(04)中提到過,然而對於nc與nv:

對於特定材料而言應為定值...吧?

上圖為文獻中給出的模擬參數。材料定義更改為下:

material material=igzo eg300=3.5 nc300=5e18 nv300=5e18 taun0=1e-9 taup0=1e-9 affinity=4.16 mup=0.1 mun=15

輸出:

其次,defect語句的引入還存在問題,我還以為引入缺陷越多,電流就會越高,實則不然。語句內各個參數定義並未完全理解,還需進一步查找資料。

 

 啊啊啊啊啊啊啊啊啊啊


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