IC的ESD測試方法


主要有四種ESD測試組合:

一.輸入/輸出 pin相對於VDD/VSS測試。

注解:

(1)所有輸入/輸出PAD相對於地的正向ESD脈沖測試。

(2)所有輸入/輸出PAD相對於地的負向ESD脈沖測試。

(3)所有輸入/輸出PAD相對於電源的正向ESD脈沖測試。

(4)所有輸入/輸出PAD相對於電源的負向ESD脈沖測試。

二. Pin to Pin ESD測試

注解:

(1)每一個輸入/輸出相對於其他所有的輸入/輸出的正向ESD脈沖測試。

(2)每一個輸入/輸出相對於其他所有的輸入/輸出的負向ESD脈沖測試。

三. VDD to VSS ESD測試

注解:

(1)正的ESD電壓出現在VDD腳,此時VSS腳接地,但所有I/O腳皆懸空。

(2)負的ESD電壓出現在VDD腳,此時VSS腳接地,但所有I/O腳皆懸空。

四. Analog Pin ESD測試

在模擬IC內常有差動輸入級(Differential Pair)。如OP的差動輸入級的正負輸入端連接到IC的Pin時,這兩支輸入腳要另外單獨做R電放電測試,以驗證該兩支輸入腳所連接的差動輸入級會不會被靜電放電所破壞。

注解:

(1)正的ESD電壓出現在差動輸入級的正輸入腳位,此時差動輸入級的負輸入腳接地,其他所有I/O腳以及VDD,VSS腳皆懸空。

(2)負的ESD電壓出現在差動輸入級的正輸入腳位,此時差動輸入級的負輸入腳接地,其他所有I/O腳以及VDD,VSS腳皆懸空。


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