IC開短路測試(open_short_test),編程器測試接觸不良、開短路用的該是這個原理
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IC開短路測試(open_short_test)又叫continuity test 或contact test,它是一種非常快速發現芯片的各個引腳間的是否有短路，及在芯片封裝時是否missing bond wires.通常都會被放測試程序的最前面.它還能發現測試時接觸是否良好，探針卡或測試座是否有問題.
開短路測試的測試原理比較簡單，分open_short_to_VDD 測試和open_short_to_VSS測試.一般來說芯片的每個引角都有泄放或說保護電路,是兩個首尾相接的二極管,一端接VDD,一端接VSS。
信號是從兩個二極管的接點進來.測試時,先把芯片的VDD引腳接0伏(或接地),再給每個芯片引腳供給一個100uA到500uA從測試機到芯片的電流,電流會經上端二極管流向VDD（0伏），然后測引腳的電壓,正常的值應該是一個二極管的偏差電壓0.7伏左右,我們一般設上限為1.5伏，下限為0.2伏,大於1.5伏判斷為openfail,小於0.2伏判斷為shortfail.這就是open_short_to_VDD測試.
open_short_to_VSS測試的原理基本相同.同樣把先VDD接0伏，然后再給一個芯片到測試的電流,電流由VSS經下端二級管流向測試機.然后測引腳的電壓,同樣正常的值應該是一個二極管的偏差電壓0.7伏左右,只是電壓方向相反,上限還是為1.5伏，下限為0.2伏,大於1.5伏判斷為openfail,小於0.2伏判斷為shortfail.這就是open_short_to_VSS測試.
所以對測試機里的測試器件來說,只要能給電流測電壓的器件都能做開短路測試.只是精度有差異,效率有高低.
編程器測試接觸不良、開短路用的該是這個原理，通過檢測那個電壓變化，只是這個小電壓測試起來有點麻煩，采用模擬方式倒是容易實現，數字方式必須進行放大處理1或者0