DFT scan chain
現代集成電路的制造工藝越來越先進，但是在生產過程中的制造缺陷也越來越難以控制，甚至一顆小小的 PM2.5 就可能導致芯片報廢，為了能有效的檢測出生產中出現的廢片，需要用到掃描鏈測試（scan chain），由此產生了可測性設計即 DFT flow。 注意scan test 只能檢測出制造瑕疵 ...
原文：DFT scan chain 介紹
現代集成電路的制造工藝越來越先進，但是在生產過程中的制造缺陷也越來越難以控制，甚至一顆小小的 PM . 就可能導致芯片報廢，為了能有效的檢測出生產中出現的廢片，需要用到掃描鏈測試 scan chain ，由此產生了可測性設計即 DFT flow。 注意scan test 只能檢測出制造瑕疵，無法檢測芯片功能瑕疵。 在芯片功能設計完成后，整個網表是由一堆普通的寄存器和組合邏輯構成的。掃描鏈的插入就 ...
2021-08-15 17:45 0 252 推薦指數：
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