Design For testability 　　DFT(Design for Test):可測試性設計（DFT）是一種集成電路設計技術，它將一些特殊結構在設計階段植入電路，以便設計完成后進行測試。電路測試有時並不容易， 　　這是因為電路的許多內部節點信號在外部難以控制和觀測 ...

1. 可測試性特點 可控性：能夠設定某些電路節點到某種狀態或邏輯值 可觀察：能夠觀測芯片內部節點的狀態或邏輯值 2. 如何測試 1）建立模型 電路建模(circuit mo ...

【轉】https://blog.csdn.net/mingzhuo_126/article/details/88044390 二.編程實現考濾到DFT和IDFT算法過程中有部分相似，可以把它們合成到一個算法。 下面驗證此算法，對X(n ...

Q: Boundary Scan是什么？應用場景是什么？實現的方法是什么？挑戰是什么？ A: Boundary Scan就是邊界掃描，是由Joint Test action Group起草的規范，最 ...

1.Boundary scan Boundary Scan就是我們俗稱的邊界掃描。Boundary Scan是上世紀90年代由 Joint Test Action Group（JTAG）提出的，它的 ...

DFT設計的主要目的是為了將defect-free的芯片交給客戶。 產品質量，通常使用Parts Per million(PPM)來衡量。 但是隨着IC從SSI到VLSI的發展，在test上花銷的時間越來越多，test的quality卻很難提高，這使得DFT的engineer不斷的發展着DFT ...

1、原理 離散傅里葉變換（Discrete Fourier Transform，DFT）是數字信號處理最重要的基石之一，也是對信號進行分析和處理時最常用的工具之一。在200多年前法國數學家、物理學家傅里葉提出后來以他名字命名的傅里葉級數之后，用DFT這個工具來分析信號就已經為人們所知。但在很長 ...

現代集成電路的制造工藝越來越先進，但是在生產過程中的制造缺陷也越來越難以控制，甚至一顆小小的 PM2.5 就可能導致芯片報廢，為了能有效的檢測出生產中出現的廢片，需要用到掃描鏈測試（scan chain），由此產生了可測性設計即 DFT flow。 注意scan ...