深入淺出理解SSD

一、核心基本參數

1.IOPS測試

測試空盤（FOB，Fresh out of BOx)和滿盤下的IOPS
空盤：RND 4KB 100%W 即4KB（二進制4KB）隨機100%純寫。
滿盤主要有三種測試方法：

1. RND 4kB 100%W：數據塊大小為4KB的寫命令，100%隨機寫；
2. RND 4kB 65：35RW： 數據塊大小是4KB的讀寫命令，65%的讀，35%的寫，混合隨機讀寫；
3. RND 4KB 100%R：數據塊大小為4KB的讀命令，100%隨機讀

2. 有關吞吐量的測試

有兩種模式：

1. SEQ 1024kB 100%W： 數據塊大小為1024KB的順序寫測試
2. SEQ 1024KB 100%R： 數據塊大小偉1024KB的順序讀測試。

3. 平均時延和最大時延

1. 最大時延反應的是服務質量。測試模式都是4KB 100%隨機寫。

4. 壽命分析

主要有兩個指標

1. DWPD（Drive Write Per Day），即在SSD保質期內，用戶每天可以把盤寫滿的次數。
2. TBW（Terabytes Written），在SSD的生命周期內可以寫入的總的字節數。
   
   
   

5. 數據可靠性

6. 功耗

Active>Idle>standby/sleep>DevSleep
發熱主要是ASIC主控和閃存模塊，這兩個是發熱大戶。當外界溫度（Ambient Temperature）在50-60攝氏度時，不加以控制就會增加發熱速度和器件孫損壞的概率，所有工作在最大負載下，控制溫度的固件設計要考慮的，就是設計降溫處理算法。

7.兼容性

1. BIOS和OS兼容
   測試角度系統兼容性認證包括:
   
2. 電信號兼容和硬件兼容性
   
3. 容錯處理
   

ssd和HDD的應用場合

二、SSD主控

1.系統架構

2、有關NAND flash的原理

• 這里的WL就是Wordline，BL就是Bitline SL就是襯底（同一個襯底，substrate line）