什么是缺陷密度
基本的缺陷測量是以每千行代碼的缺陷數(Defects/KLOC)來測量的。稱為缺陷密度(Dd)，其測量單位是defects／KLOC。缺陷密度=缺陷數量/代碼行或功能點的數量。
我們可以按照以下步驟來計算一個程序的缺陷密度：
1.累計開發過程中每個階段發現的缺陷總數(D)。
2. 統計程序中新開發的和修改的代碼行數(N)。
3. 計算每千行的缺陷數Dd=1000*D/N。例如，一個29.6萬行的源程序總共有145個缺陷，則缺陷密度是： Dd＝1000*145/296000=0.49 defects／KLOC。