Scan and ATPG (Tessent)----1.基礎概念

1、測試的目的 篩選出有錯誤的芯片。 2、測試的類型 功能測試——驗證電路的功能。 制造測試——驗證設計有沒有制造缺陷 制造試驗類型： 掃描測試、掃描壓縮測試、BIST(Memory te ...