ATPG——自動測試pattern生成 Fault——電路或系統中可能會或不會導致系統故障的物理缺陷 Fault Model——表示物理缺陷影響的邏輯模型 一、Fault Model 1、stuck-at fault model 2、At-speed fault ...
Basic Scan 優先使用 速度極快,覆蓋范圍廣,可進行全掃描 Fast Sequential 如果有需要使用 全掃描設計的覆蓋范圍更大 適用於memory周圍的陰影邏輯 有限的no scan Full Sequential 最后使用 強大的引擎支持更復雜的設計 run atpg auto自動執行最好的結果 一 Basic Scan VS.Fast Sequential Basic Scan ...
2021-01-07 17:53 0 1165 推薦指數:
ATPG——自動測試pattern生成 Fault——電路或系統中可能會或不會導致系統故障的物理缺陷 Fault Model——表示物理缺陷影響的邏輯模型 一、Fault Model 1、stuck-at fault model 2、At-speed fault ...
一、ATPG Fundamentals 二、TetraMAX Flow Build Mode DRC Mode TEST Mode 三、SPF & Quick STIL 四、Faults and Coverage 五、ATPG 六、Fault ...
AT-SPEED Fault 兩種Faults: STR --- Slow to Rise STF --- Slow to Fall 檢測fault需要每個pattern需要兩個向 ...
怎么生成EVCD文件? fault simulation after ATPG ...
write_pattern <filename> [ -replace ] [ -first <d>] [-last <d> ] ...
TetraMAX Overview TetraMax Flow TetraMax的啟動 tmax [file] 如果要執行file直接跟file路徑即可 ...
一、STIL Protocol文件基礎結構 包含的內容: scan input和output的名稱 哪些pin充當“clock” pins、clock、measures的時 ...
一、主要的fault分類 DT——Detected PT——Possibly Detected UD——Undetected AU——ATPG Untestable ND——Not Detected 使用set_faults -symmary verbose查看更詳細的fault分類 ...