ATPG原理與實現——1.ATPG基礎

ATPG——自動測試pattern生成

Fault——電路或系統中可能會或不會導致系統故障的物理缺陷

Fault Model——表示物理缺陷影響的邏輯模型

一、Fault Model

1、stuck-at fault model

 

 

2、At-speed fault model

兩種類型：

Transition fault model	Standard Transition Delay Model
	Small Delay Defect Model
Path Delay fault model	Setup Time Fault
	Hold Time Fault

 

 

 

 

 

 

 

Transition Delay Testing

fault與library cell相關；每個節點都有一個緩慢上升/緩慢下降的點；目標點缺陷

Path Delay Testing

故障與path相關；目標路徑通常包括“關鍵”路徑；針對流程缺陷

3、其他fault model

Bridging(static、Dynamic)

IDDQ

etc

 

二、scan pattern

施加一個stimulus並檢查預期response以檢測目標故障的一個或多個向量的序列。

 

 例子：