scan chain的原理和實現
一、Scan Chain基礎 二、基礎Scan Insertion流程 三、Tester Timing 四、DFT Rules, DRC and AutoFix 五、UDTP 六、Scan Architecture 七、Clock Gating Cell Connection ...
原文：scan chain的原理和實現——8.AT SPEED Test & OCC
AT SPEED Test last shift launch mode 低速測試 system clock launch mode launch on capture .at speed test structure and OCC Controller .OCC Controller 當使用set dft configuration clock controller enable運行inser ...
2020-12-28 11:14 0 836 推薦指數：
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DFT scan chain 介紹
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DFT scan chain
現代集成電路的制造工藝越來越先進，但是在生產過程中的制造缺陷也越來越難以控制，甚至一顆小小的 PM2.5 就可能導致芯片報廢，為了能有效的檢測出生產中出現的廢片，需要用到掃描鏈測試（scan chain），由此產生了可測性設計即 DFT flow。 注意scan test 只能檢測出制造瑕疵 ...