一、Scan Chain基礎 二、基礎Scan Insertion流程 三、Tester Timing 四、DFT Rules, DRC and AutoFix 五、UDTP 六、Scan Architecture 七、Clock Gating Cell Connection ...
set scan configuration 此命令用於指定掃描屬性,例如:掃描方式 掃描鏈數或掃描鏈長度 處理多個時鍾 lock up 掃描鏈中省略的寄存器。 set scan configuration style multiplexed flip flop I lssd lclocked scan aux clock lssd l combinational l none clock mix ...
2020-12-26 14:27 0 509 推薦指數:
一、Scan Chain基礎 二、基礎Scan Insertion流程 三、Tester Timing 四、DFT Rules, DRC and AutoFix 五、UDTP 六、Scan Architecture 七、Clock Gating Cell Connection ...
synopsys DFTMAX——Adaptive Scan 將原始的scan chain分割為更短的scan chain。較短的鏈條加載時間更少,並且更少的數據加載到測試儀上 1、DFTMAX &Test Mode 在典型的DFT MAX運行中,壓縮和常規掃描模式 ...
UDTP(user defined test point) 指示DFTC在設計中用戶指定的位置插入控制點和觀察點 1.為什么要使用UDTP? 修復無法控制的clock和/或asynch pins ...
test_model | scan_enable -sequential_c ...
AT SPEED Test last_shift launch mode (低速測試) system_clock launch mode ( launch on capture) 1. ...
現代集成電路的制造工藝越來越先進,但是在生產過程中的制造缺陷也越來越難以控制,甚至一顆小小的 PM2.5 就可能導致芯片報廢,為了能有效的檢測出生產中出現的廢片,需要用到掃描鏈測試(scan chain),由此產生了可測性設計即 DFT flow。 注意scan ...
現代集成電路的制造工藝越來越先進,但是在生產過程中的制造缺陷也越來越難以控制,甚至一顆小小的 PM2.5 就可能導致芯片報廢,為了能有效的檢測出生產中出現的廢片,需要用到掃描鏈測試(scan chain),由此產生了可測性設計即 DFT flow。 注意scan test 只能檢測出制造瑕疵 ...
keys 的操作會導致數據庫暫時被鎖住,其他的請求都會被堵塞;業務量大的時候會出問題 當需要掃描key,匹配出自己需要的key時,可以使用 scan 命令 java代碼實現如下: 參考地址: Spring RedisTemplate實現scan ...