原文:scan chain的原理和實現——5.UDTP

UDTP user defined test point 指示DFTC在設計中用戶指定的位置插入控制點和觀察點 .為什么要使用UDTP 修復無法控制的clock和 或asynch pins 增加設計的測試覆蓋率 減少pattern數量 .UDTP的類型 Force force force force force z force z force z Control control control c ...

2020-12-26 10:20 0 379 推薦指數:

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scan chain原理實現

一、Scan Chain基礎 二、基礎Scan Insertion流程 三、Tester Timing 四、DFT Rules, DRC and AutoFix 五、UDTP 六、Scan Architecture 七、Clock Gating Cell Connection ...

Sat Dec 26 02:15:00 CST 2020 1 553
scan chain原理實現——6.scan architecture

set_scan_configuration 此命令用於指定掃描屬性,例如: 掃描方式、掃描鏈數或掃描鏈長度、處理多個時鍾、lock-up、掃描鏈中省略的寄存器。 set_scan_configuration -style multiplexed_flip_flop I lssd l ...

Sat Dec 26 22:27:00 CST 2020 0 509
scan chain原理實現——11.Scan Compression

synopsys DFTMAX——Adaptive Scan 將原始的scan chain分割為更短的scan chain。較短的鏈條加載時間更少,並且更少的數據加載到測試儀上 1、DFTMAX &Test Mode 在典型的DFT MAX運行中,壓縮和常規掃描模式 ...

Tue Dec 29 17:24:00 CST 2020 2 635
DFT scan chain 介紹

現代集成電路的制造工藝越來越先進,但是在生產過程中的制造缺陷也越來越難以控制,甚至一顆小小的 PM2.5 就可能導致芯片報廢,為了能有效的檢測出生產中出現的廢片,需要用到掃描鏈測試(scan chain),由此產生了可測性設計即 DFT flow。 注意scan ...

Mon Aug 16 01:45:00 CST 2021 0 252
DFT scan chain

現代集成電路的制造工藝越來越先進,但是在生產過程中的制造缺陷也越來越難以控制,甚至一顆小小的 PM2.5 就可能導致芯片報廢,為了能有效的檢測出生產中出現的廢片,需要用到掃描鏈測試(scan chain),由此產生了可測性設計即 DFT flow。 注意scan test 只能檢測出制造瑕疵 ...

Fri Mar 29 23:51:00 CST 2019 0 3079
Redis SCAN命令實現有限保證的原理

SCAN命令可以為用戶保證:從完整遍歷開始直到完整遍歷結束期間,一直存在於數據集內的所有元素都會被完整遍歷返回,但是同一個元素可能會被返回多次。如果一個元素是在迭代過程中被添加到數據集的,又或者是在迭代過程中從數據集中被刪除的,那么這個元素可能會被返回,也可能不會返回。 這是如何實現的呢,先從 ...

Mon Jul 29 19:36:00 CST 2019 0 1100
 
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