一、Scan Chain基礎 二、基礎Scan Insertion流程 三、Tester Timing 四、DFT Rules, DRC and AutoFix 五、UDTP 六、Scan Architecture 七、Clock Gating Cell Connection ...
UDTP user defined test point 指示DFTC在設計中用戶指定的位置插入控制點和觀察點 .為什么要使用UDTP 修復無法控制的clock和 或asynch pins 增加設計的測試覆蓋率 減少pattern數量 .UDTP的類型 Force force force force force z force z force z Control control control c ...
2020-12-26 10:20 0 379 推薦指數:
一、Scan Chain基礎 二、基礎Scan Insertion流程 三、Tester Timing 四、DFT Rules, DRC and AutoFix 五、UDTP 六、Scan Architecture 七、Clock Gating Cell Connection ...
set_scan_configuration 此命令用於指定掃描屬性,例如: 掃描方式、掃描鏈數或掃描鏈長度、處理多個時鍾、lock-up、掃描鏈中省略的寄存器。 set_scan_configuration -style multiplexed_flip_flop I lssd l ...
synopsys DFTMAX——Adaptive Scan 將原始的scan chain分割為更短的scan chain。較短的鏈條加載時間更少,並且更少的數據加載到測試儀上 1、DFTMAX &Test Mode 在典型的DFT MAX運行中,壓縮和常規掃描模式 ...
test_model | scan_enable -sequential_c ...
AT SPEED Test last_shift launch mode (低速測試) system_clock launch mode ( launch on capture) 1. ...
現代集成電路的制造工藝越來越先進,但是在生產過程中的制造缺陷也越來越難以控制,甚至一顆小小的 PM2.5 就可能導致芯片報廢,為了能有效的檢測出生產中出現的廢片,需要用到掃描鏈測試(scan chain),由此產生了可測性設計即 DFT flow。 注意scan ...
現代集成電路的制造工藝越來越先進,但是在生產過程中的制造缺陷也越來越難以控制,甚至一顆小小的 PM2.5 就可能導致芯片報廢,為了能有效的檢測出生產中出現的廢片,需要用到掃描鏈測試(scan chain),由此產生了可測性設計即 DFT flow。 注意scan test 只能檢測出制造瑕疵 ...
SCAN命令可以為用戶保證:從完整遍歷開始直到完整遍歷結束期間,一直存在於數據集內的所有元素都會被完整遍歷返回,但是同一個元素可能會被返回多次。如果一個元素是在迭代過程中被添加到數據集的,又或者是在迭代過程中從數據集中被刪除的,那么這個元素可能會被返回,也可能不會返回。 這是如何實現的呢,先從 ...