set_scan_configuration 此命令用於指定掃描屬性,例如: 掃描方式、掃描鏈數或掃描鏈長度、處理多個時鍾、lock-up、掃描鏈中省略的寄存器。 set_scan_configuration -style multiplexed_flip_flop I lssd l ...
一 Scan Chain基礎 二 基礎Scan Insertion流程 三 Tester Timing 四 DFT Rules, DRC andAutoFix 五 UDTP 六 Scan Architecture 七 Clock Gating Cell Connection 八 ATSPEED Test amp OCC 九 HSS Flow 十 Multi Mode Scan 十一 Scan Co ...
2020-12-25 18:15 1 553 推薦指數:
set_scan_configuration 此命令用於指定掃描屬性,例如: 掃描方式、掃描鏈數或掃描鏈長度、處理多個時鍾、lock-up、掃描鏈中省略的寄存器。 set_scan_configuration -style multiplexed_flip_flop I lssd l ...
UDTP(user defined test point) 指示DFTC在設計中用戶指定的位置插入控制點和觀察點 1.為什么要使用UDTP? 修復無法控制的clock和/或asynch pins ...
synopsys DFTMAX——Adaptive Scan 將原始的scan chain分割為更短的scan chain。較短的鏈條加載時間更少,並且更少的數據加載到測試儀上 1、DFTMAX &Test Mode 在典型的DFT MAX運行中,壓縮和常規掃描模式 ...
test_model | scan_enable -sequential_c ...
AT SPEED Test last_shift launch mode (低速測試) system_clock launch mode ( launch on capture) 1. ...
現代集成電路的制造工藝越來越先進,但是在生產過程中的制造缺陷也越來越難以控制,甚至一顆小小的 PM2.5 就可能導致芯片報廢,為了能有效的檢測出生產中出現的廢片,需要用到掃描鏈測試(scan chain),由此產生了可測性設計即 DFT flow。 注意scan ...
現代集成電路的制造工藝越來越先進,但是在生產過程中的制造缺陷也越來越難以控制,甚至一顆小小的 PM2.5 就可能導致芯片報廢,為了能有效的檢測出生產中出現的廢片,需要用到掃描鏈測試(scan chain),由此產生了可測性設計即 DFT flow。 注意scan test 只能檢測出制造瑕疵 ...
SCAN命令可以為用戶保證:從完整遍歷開始直到完整遍歷結束期間,一直存在於數據集內的所有元素都會被完整遍歷返回,但是同一個元素可能會被返回多次。如果一個元素是在迭代過程中被添加到數據集的,又或者是在迭代過程中從數據集中被刪除的,那么這個元素可能會被返回,也可能不會返回。 這是如何實現的呢,先從 ...