scan & ATPG
Testability用來表征一個manufactured design的quality。 將testability放在ASIC前端來做，成為DFT(Design For Test)，用可控(con ...
原文：Scan and ATPG (Tessent)----1.基礎概念
測試的目的 篩選出有錯誤的芯片。 測試的類型 功能測試 驗證電路的功能。 制造測試 驗證設計有沒有制造缺陷 制造試驗類型： 掃描測試 掃描壓縮測試 BIST Memory test Logic test 什么是scan test 使內部電路可控 可觀測。 制造缺陷 短路 斷路 橋接等，port短路到 邏輯單元翻轉轉速度不正常 路徑延遲不正常等 測試中使用的常見故障模型 Stuck at 最常見 ...
2020-12-17 12:15 0 1634 推薦指數：
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