集成電路測試的定義 集成電路測試是對集成電路或模塊進行檢測,通過測量對於集成電路的輸出回應和預期輸出比較,以確定或評估集成電路元器件功能和性能的過程,是驗證設計、監控生產、保證質量、分析失效以及指導應用的重要手段。 集成電路測試的基本原理 被測電路DUT(Device Under ...
一 從沙子到芯片 .簡單地說,處理器的制造過程可以大致分為沙子原料 石英 硅錠 晶圓 光刻 平版印刷 蝕刻 離子注入 金屬沉積 金屬層 互連 晶圓測試與切割 核心封裝 等級測試 包裝上市等諸多步驟,而且每一步里邊又包含更多細致的過程。 Sand sillicon chip .Si 地殼中,沙子 硅熔煉: 英寸 毫米晶圓級 直徑 。通過多步凈化得到可用於半導體制造質量的硅。 學名電子級硅 EGS , ...
2020-10-30 11:47 0 499 推薦指數:
集成電路測試的定義 集成電路測試是對集成電路或模塊進行檢測,通過測量對於集成電路的輸出回應和預期輸出比較,以確定或評估集成電路元器件功能和性能的過程,是驗證設計、監控生產、保證質量、分析失效以及指導應用的重要手段。 集成電路測試的基本原理 被測電路DUT(Device Under ...
CPU(Centralprocessingunit)是現代計算機的核心部件,又稱為“微處理器(Microprocessor)”。對於PC而言,CPU的規格與頻率常常被用來作為衡量一台電腦性能強弱重要指 ...
半導體異質集成電路 中國集成電路落后三大原因: EDA落后,現階段研究算法的多,但很靈散,沒有規划、集成,形成能力,大型軟件工程能力較弱,經驗較少,用戶部願意使用國產軟件工具; 裝備落后,這主要是整體能力和市場環境等多方面因素影響; 器件與電路落后,表現材料落后;工藝精細度和穩定性不足 ...
數字電路設計的抽象層次:器件->電路->門->模塊->系統 時鍾偏差對全局信號都可能產生影響,是高性能大系統的設計關鍵。 集成電路的成本:固定成本+可變成本;固定成本可理解為研發成本,非重復的成本;可變成本可理解為生產制造(芯片成本和封測成本)過程中產生的成本,與良 ...
專用集成電路 -- CMOS組合邏輯設計 目錄 專用集成電路 -- CMOS組合邏輯設計 1. 靜態互補CMOS 1.1 閾值損失 1.2 兩輸入與非門實例 1.3 延時與扇入的關系 1.4 解決 ...
文檔標識符:IC_DeCap_T-P3 作者:DLHC 最后修改日期:2021.10.2 最后修改內容:分類 本文鏈接:https://www.cnblogs.com/DLHC-TECH/p/IC_DeCap_T-P3.html 前言 集成電路誕生於20世紀 ...
模擬集成電路實踐記錄 本實踐記錄以北京理工大學微電子實驗室培訓教程為參考,結合我的個人學習經歷和工作方向進行了一定的思考和整理。 我本科階段參與的競賽主要為數字方向,對於算法,單片機,FPGA,數字前后端花了很多時間去學習課外的知識以及參與實踐,並感到裨益匪淺。但模擬方向只是上過理論課,缺乏 ...
專用集成電路 -- 反相器 @(知識點匯總) 《數字集成電路--電路、系統與設計》第二版 復習筆記 目錄 專用集成電路 -- 反相器 Chapter 1 1.反相器的電壓傳輸特性 (VTC) 2. 數字電路 ...