Nor Flash芯片特性分析
Nor Flash是Intel在1988年推出的非易失閃存芯片，可隨機讀取，擦寫時間長，可以擦寫1~100W次，支持XIP（eXecute In Place）。 本文以JS28F512M29EWH為例分析Nor Flash芯片的特性以及讀、擦、寫、查詢等操作的具體實現原理。 1、芯片特性 ...
原文：flash芯片測試
flash操作不同於sram，sram類似於在使用ram ip核 quartus vivado 時生成的模塊直接對存儲操作，flash操作都是基於控制器的指令來的。flash在編程 寫數據 之前是需要對芯片擦除 也就是寫 ,因為編程操作只能把 變成 ，而不能把原本是 的位變成 。 基本的命令：擦除命令 編程命令 讀取命令 讀取命令分為讀取數據和讀取寄存器 基本操作格式:命令 地址 數據 地址和數 ...
2020-05-20 08:40 0 660 推薦指數：
相關推薦
Nand flash 芯片工作原理
Nand flash 芯片型號為 Samsung K9F1208U0B，數據存儲容量為 64MB，采用塊頁式存儲管理。8 個 I/O 引腳充當數據、地址、命令的復用端口。 芯片內部存儲布局及存儲操作特點 一片 Nand flash 為一個設備(device), 其數據存儲 ...
【STM32F4】讀取芯片ID和芯片Flash Size
首先聲明，手冊上給出的FlashSize地址是錯誤的，正確的應該是0x1FFF7A20，取高16位。確切說應該是(0x1FFF7A23,0x1FFF7A22兩個字節)， 芯片的這96位ID是產品唯一身份標識。可以從特定的寄存器中讀出來。FlashSize表示內部flash的大小，也是固化在芯片 ...
幾種flash存儲芯片的用途和分類
1、IIC EEPROM------容量小，采用的是IIC通信協議；用於在掉電時，存系統配置參數，比如屏幕亮度等。常用芯片型號有 AT24C02、FM24C02、CAT24C02等，其常見的封裝多為DIP8，SOP8，TSSOP8等； 2、SPI NorFlash------容量略大，采用 ...
分治算法之芯片測試
VLSI芯片測試 1. 芯片測試 在講解具體的芯片測試的分治策略算法之前，先來了解芯片測試的意思。 1.1 一次測試的過程 如上圖，A、B為芯片。測試方法為：將2片芯片（A和B）置於測試台上，互相進行測試，測試報告是“好”或者“壞”，只取其一。 假設：好芯片的報告一定是正確的，壞 ...
FLASH壽命測試！
不是自己測得，摘自網絡。 測試的flash型號是sst39vf160，由於測試時間的問題，只測試了一個扇區4個字節，用了整整一個星期才完成所有測試，測試結果總結如下： 1、flash有壽命限制，sst39vf160手冊上說是10萬次，實驗片的實測卻超過80萬次。 2、每一個位的壽命 ...
Jlink使用技巧之燒寫SPI Flash存儲芯片
的工具了。 准備 要燒寫程序或讀取程序的的Flash芯片：SPI協議的Flash都可以，如W25 ...
用C++實現：芯片測試
問題描述 有n（2≤n≤20）塊芯片，有好有壞，已知好芯片比壞芯片多。 每個芯片都能用來測試其他芯片。用好芯片測試其他芯片時，能正確給出被測試芯片是好還是壞。而用壞芯片測試其他芯片時，會隨機給出好或是壞的測試結果（即此結果與被測試芯片實際的好壞無關）。 給出所有芯片 ...