用C++實現：芯片測試

問題描述

　　有n（2≤n≤20）塊芯片，有好有壞，已知好芯片比壞芯片多。
　　每個芯片都能用來測試其他芯片。用好芯片測試其他芯片時，能正確給出被測試芯片是好還是壞。而用壞芯片測試其他芯片時，會隨機給出好或是壞的測試結果（即此結果與被測試芯片實際的好壞無關）。
　　給出所有芯片的測試結果，問哪些芯片是好芯片。

輸入格式

　　輸入數據第一行為一個整數n，表示芯片個數。
　　第二行到第n+1行為n*n的一張表，每行n個數據。表中的每個數據為0或1，在這n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的數據表示用第i塊芯片測試第j塊芯片時得到的測試結果，1表示好，0表示壞，i=j時一律為1（並不表示該芯片對本身的測試結果。芯片不能對本身進行測試）。

輸出格式

　　按從小到大的順序輸出所有好芯片的編號

樣例輸入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

樣例輸出

1 3

 

思路：已知好芯片數目比壞芯片數目多，而且當遇到一個好的芯片的時候，用壞芯片去檢測，有可能檢驗結果正確，有可能錯誤，而拿合格的芯片去檢測，則檢驗結果一定是合格，所以如果在檢驗一個芯片的時候，其他芯片表示1的個數大於芯片總數的一半，就可以說明這個正在被檢測的芯片是好的芯片。

 

#include<iostream>

using namespace std;

class chips
{
public:
    int get_n()  //獲取芯片個數
    {
        cin >> n;
        return n;
    }

    int get_all_chips()   //初始化原來所有芯片
    {
        for(int i=1;i<=n;i++)
        {
            for(int j=1;j<=n;j++)
            {
                cin>>all_chips[i][j];
            }
        }
        return 0;
    }

    int check_chips()  //篩選出合格的芯片
    {
        for(int i=1;i<=n;i++)
        {
            for(int j=1;j<=n;j++)
            {
                if(all_chips[i][j]==1)
                {
                    qualified_chips[j]++;
                }
            }
        }
    }

    int print_qualified_chips()  //輸出函數
    {
        int flag=0;   //用flag來控制輸出格式
        for(int i=1;i<=n;i++)
        {
            if(qualified_chips[i]>n/2)
            {
                if(flag==0)
                {
                    cout << i;
                    flag=1;
                }
                else
                {
                    cout<<" "<<i;
                }
            }
        }
    }
private:
    int all_chips[21][21];   //所有芯片
    int qualified_chips[21]={0};   //合格芯片
    int n;
};

int main(void)
{
    chips chip;
    chip.get_n();
    chip.get_all_chips();
    chip.check_chips();
    chip.print_qualified_chips();
    return 0;
}

注意：題目要求i=j的時候不算數，所以在判斷這個芯片是否符合條件的時候，用的>而不是>=，如果在判斷的時候考慮進去，就加一個等號。