DFT scan chain 介紹
現代集成電路的制造工藝越來越先進，但是在生產過程中的制造缺陷也越來越難以控制，甚至一顆小小的 PM2.5 就可能導致芯片報廢，為了能有效的檢測出生產中出現的廢片，需要用到掃描鏈測試（scan chain），由此產生了可測性設計即 DFT flow。 注意scan ...
原文：Latch timing analysis, ICG usage, Latch usage in DFT scan chain
Latch應用總結 附Time Borrowing，Lockup，Clock Gating Check概念解析 The following article is from RTL GDSAuthor 老本 Benjamin RTL GDS 數字集成電路設計中從RTL到GDS Tapeout整個過程中的知識點系統性分享。包括：IC后端設計 物理設計 , 綜合, STA, PV, DFT等。也會發表些 ...
2020-05-25 03:30 0 757 推薦指數：
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現代集成電路的制造工藝越來越先進，但是在生產過程中的制造缺陷也越來越難以控制，甚至一顆小小的 PM2.5 就可能導致芯片報廢，為了能有效的檢測出生產中出現的廢片，需要用到掃描鏈測試（scan chain），由此產生了可測性設計即 DFT flow。 注意scan test 只能檢測出制造瑕疵 ...
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