DFT scan chain 介紹
現代集成電路的制造工藝越來越先進，但是在生產過程中的制造缺陷也越來越難以控制，甚至一顆小小的 PM2.5 就可能導致芯片報廢，為了能有效的檢測出生產中出現的廢片，需要用到掃描鏈測試（scan chain），由此產生了可測性設計即 DFT flow。 注意scan ...
原文：DFT介紹
. 可測試性特點 可控性：能夠設定某些電路節點到某種狀態或邏輯值 可觀察：能夠觀測芯片內部節點的狀態或邏輯值 . 如何測試 建立模型 電路建模 circuit modeling 故障建模 fault modeling ATPG Logic simulation Fault simulation Test generation 可測試設計 Design for test DFT ad hoc te ...
2018-09-04 14:57 0 1022 推薦指數：
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