Scan and ATPG (Tessent)----1.基礎概念
1、測試的目的 篩選出有錯誤的芯片。 2、測試的類型 功能測試——驗證電路的功能。 制造測試——驗證設計有沒有制造缺陷 制造試驗類型： 掃描測試、掃描壓縮測試、BIST(Memory test、Logic test) 3、什么是scan test 使內部電路可控、可觀 ...
原文：scan & ATPG
Testability用來表征一個manufactured design的quality。 將testability放在ASIC前端來做，成為DFT Design For Test ，用可控 controllable 可觀 observable 來表征。 DFT的實現的兩個大方向：ad hoc和structure。 ad hoc：利用良好的設計習慣，來保證testability。減少無關邏輯，異步 ...
2016-04-08 19:23 1 2148 推薦指數：
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