TAP and TAP Controller
Test Access Port (TAP)
這個是用來進行 JTAG 控制的接口，IEEE 標准規定了四個強制 TAP 信號以及一個可選信號，詳見。
- TDI
- TDO
- TCK
- TMS
- TRST
TAP Controller
它控制着 JTAG 操作，它是由 16 個狀態組成的有限狀態 FSM，它的狀態通過 TMS 信號、TCK 以及 TRST 進行控制，TAP 控制器的狀態只有在 TCK 上升沿時改變，下一個狀態由 TMS 邏輯電平以及當前所處狀態機決定，如圖所示:
上圖從最外層查看了 TAP 控制器的信息。TMS、TCK 以及可選的 TRST 信號進入到有限狀態機，基於 FSM 的不同狀態產生不同的控制信號。這些輸出信號包括對指令寄存器 IR 的專用控制信號: CaptureIR、Shift IR、UpdateIR；包括對數據寄存器 DR 的專用控制信號: CaptureDR、ShiftDR、UpdateDR。
下面對 TAP 控制器的各個狀態進行簡單的描述:
Test-Logic-Reset重置JTAG接口，無論TRST引腳信號是否被觸發，都會進入到重置的狀態。注意到無論TAP控制器處於何種狀態，若TMS保持5個TCK的高電平，狀態機都會回到這個狀態。因此，如果我們沒有TRST引腳，我們依然可以重置TAP狀態機Run-Test/Idle這是一個穩態，有限狀態機等待某種測試操作完成Select-DR/Scan與Select-IR/Scan這是一種暫態，允許測試數據隊列初始化准備Capture-DR與Capture-IR這個狀態下，數據可以並行的進入到相應的寄存器Shift-DR與Shift-IR這個狀態下，測試數據串行輸入到相應的寄存器Exit1-DR與Exit1-IR從Capture-DR、Capture-IR並行載入或串行載入數據的數據此時維持在寄存器中Pause-DR與Pause-IR有限狀態機暫替他的功能，等待一些外部操作Exit2-DR與Exit2-IR這個狀態下，表示Pause-DR或Pause-IR操作結束，允許TAP控制器來回到Shift-DR或Shift-IR狀態來移入或移出更多的數據Update-DR與Update-IR當前觸發器中的數據跳轉進入到下一個觸發器中