1. 光源的主要作用
1、照亮目標，提高亮度。
2、凸顯出缺陷和背景差異，提高圖形對比度，形成有利於圖像處理的效果。
3、克服環境光干擾，保證圖像穩定性。
2. 光源分類：
LED、熒光燈，鹵素燈
在實際應用中，由於LED光源的優勢，形狀設計靈活，使用壽命長，響應速度快，綜合性價比高，單色性好，顏色多樣化的特點，在機器視覺中應用最廣泛。
3. 好的圖像效果：
1 均勻性
圖像的背景的灰度值不能有過大的差異；圖像不均勻影響處理效果。右邊圖片
整個背景灰度值相近，處理起來相對左邊要簡單的多。
2 對比度
對比度好：圖像中需要提取的特征和背景的灰度值差值要大（黑白相機）
3 邊緣過度像素
放大目標與背景的邊緣部分，過度像素不超過 3 個，圖像效果比較穩定，超過 3 個以上，定位結果的穩定性會受到影響。
常見的LED光源類型：
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環形高角度光源：
高角度光源提供高角度照射，不同顏色組合，突出物體的表面信息，解決對角照射陰影問題，常用於明場照明。
應用領域：PCB 基板檢測、IC 元件檢測、顯微鏡照明、液晶校正、塑膠容器檢測、集成電路印字檢測。
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環形低角度光源：
90 度光源提供低角度照射，突出物體的表面輪廓，常用於暗場照明。
應用領域：IC 元件檢測、塑膠容器檢測、集成電路印字檢查。
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條形光源
條形光源是較大方形結構被測物體的首選光源，照射角度與安裝隨意可調。
應用領域：金屬表面檢測，圖像掃描，表面裂痕檢測，LCD 面板檢測等
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點光源
點光源體積小，發光強度高，適合做鏡頭的同軸光源。
應用領域：適合遠心鏡頭使用，用於芯片檢測，mark 點定位，晶片及液晶玻璃位置校正。
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同軸光源
同軸光源可以消除物體表面不平整引起的陰影，從而減少干擾。采用分光鏡設計，減少光損失，提高成像清晰度，均勻照射物體表面。
應用領域：此系列光源最適宜用於反射度極高的物體，如金屬、玻璃、膠片、晶片等表面划傷檢測，芯片和硅晶片的破損檢測，Mark 點定位等應用。
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背光光源
背光照明能突出物體的外形輪廓特征，尤其適合作為顯微鏡的載物台。
應用領域：機械零件尺寸的測量，電子元件、IC 的外形檢測，膠片污點檢測，透明物體划痕檢測等。
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球積分光源
球積分光源具有積分效果的半球面內壁，均勻反射從底部 360 度發射出的光線，使整個圖像的照度十分均勻。
應用領域：適合於曲面，表面凹凸，戶型表面檢測，金屬、玻璃表面反光較強的物體表面檢測。
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AOI 專用光源
AOI 專用光源采用不同角度的三色光照明，將目標上不同傾斜角度顯示為不同顏色，從而凸顯焊錫三維信息，通過一定算法，還原工件表面三維特征。
應用領域：專用於電路板焊錫檢測。
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線性光源
線性光源采用柱面透鏡聚光，適用於各種流水線連續檢測場合。應用領域：
線陣相機照明專用，應用在印刷、鋼材等流水線上，AOI 專用。
