INTEL SSD SMART 性能 E8 E9 轉

如題
今天研究了一下怎么看Intel SSD Toolbox里邊顯示的Smart信息。
首先說，查看Intel SSD smart信息最好最方便的當然就是自家的工具箱，用其他工具查看不是不可以，但是很多數據要自己換算，很麻煩。
下邊就把各個選項的意思寫一下：

首先各項值分成三個：
Raw，原始值；Normalized，正態值，實際上就是有的值是一個相對量，就用這個還描述一個什么樣的程度（比如說磨損了60%這樣）；threshold，臨界值，對於某些項目超過這個值會有不幸的事情發生了

03：硬盤磁頭加載時間
這個SSD沒有，所以沒意思。這個值是固定的，0

04：啟停時間
這個也沒意義，固定為0

05：重映射扇區數量
這個機械硬盤用戶非常敏感的。實際上對於閃存來說，他的壽命是正態分布的，說是MLC能寫入10000次以上，實際上說的是寫入10000次之前不會發生“大量損壞”，某些位可能寫入幾十次就壞掉了。換言之，閃存壞掉是很正常的。Intel在制造固態硬盤的時候保留了一定的空間，當某塊閃存出現問題之后即把壞的隔離掉，用好的來頂替。凡是閃存設備都存在這個問題，沒必要大驚小怪的。這個值隨着使用會不斷增長的，只要增長的速度OK就好了。
50nm的盤（一代）要看Normalized值。這個值初始是100。當出現重映射扇區的時候這個不會立即變化，一直到3個扇區。一旦重映射達到4個扇區，這個變為1，之后每增加4個Normalized值+1。也就是，100對應的0-3個扇區，1對應4-7個扇區，2對應8-11個扇區，3對應12-15扇區，以此類推……
34nm的盤（二代）直接看Raw值，是多少就對應多少個重映射扇區。

09：通電時間
這個看Raw值，是多少就是多少小時。

0C：電源循環此時
這個就是經歷了幾次開機和關機。一次開關機+1。直接看Raw值。

C0：不安全關機次數
正常關機的時候電源會給硬盤一個通知，叫做STANDBY IMMEDIATE，就是把緩存數據迅速寫入之后邊上歇着，准備斷電了。如果沒有這個通知，就直接沒電，那就是不安全的。不過SSD里邊有電容，可以保證在緊急斷電的情況下也能把數據安全的寫到閃存里邊。所以沒必要擔心。這個直接看Raw值。

E1：主機寫入數據量
固態硬盤在寫入的時候會消耗閃存，所以這個SSD會統計的。這個看Raw值，每寫入65,536個扇區，這個值+1，所以用什么HDTune、Sandra之類的軟件查SMART的可以自己算。SSD工具箱就是直接給你算好了，這個很簡單，直接看是多少就好了。

E8：可用的預留閃存數量
前邊05項說了，Intel SSD里邊會保留一些容量來替換壞掉的閃存，所以這個值是非常重要的。當保留的閃存用光了，再出現壞掉的塊的時候那這個硬盤就要結束壽命了。所以看05項沒什么意義，盯住這個就對了。這個看Normalized值，新的盤所有的預留空間都在，所以是100。隨着預留空間的消耗，這個值不斷減小，減小到Threshold值10的時候，盤就完蛋了。實際上預留的空間很多，所以盡管放心用就好了啊

E9：閃存磨耗指數
前邊05也一定說了，閃存寫入次數是有限的，當到達一定值的時候，就會出現大量壞掉，這時候預留閃存就頂不住了，之后盤就會掛掉。所以這個實際上是SSD的年齡，而E8相當於健康狀況。就是健康狀況OK，到了年紀大了，也很容易突然健康急劇惡化死掉；反之，如果年紀輕輕健康很差的話，也是有較大的可能掛掉的。這個看Normalized值，從新的盤100，隨着使用逐漸減小到1。之后就不會減少了，但是Intel表示SSD也不一定就掛掉，因為用戶有可能踩到運氣，趕上閃存體質好，所謂老而不死。

B8：點到點錯誤探測值
SSD里邊有一個LGA (logical block addressing)，就是給OS看的邏輯扇區和實際的閃存地址之間的對應表。只有34nm的盤有這一項。這個看Normalized值。Intel資料沒有說明具體含義，個人推測會從100減少，如果有搞清楚的還請指教。

所以呢，關鍵就是看E8和E9項。只要這兩個OK，SSD就是年輕力壯的。

附一個我的x25-m的狀態給大家看：