空間確定性插值,以研究區域內部的相似性或者平滑度為基礎,由已知樣點來創建表面。
1、IDW
相近相似原理,反距離加權。
樣點分布要盡可能均勻,且布滿整個插值區域。
對於不規則分布的樣點,插值時利用的樣點往往也不均勻的分布在周圍不同的方向上,這樣對每個方向上的插值結果的影響不同,准確度也會降低。
2、全局多項式插值
一個多項式計算預測值,即用一個平面或曲面進行全區特征擬合。非精確插值法,不與實際樣點完全重合。
要求樣點模擬的屬性在研究區域表面的變化是平緩的。或者檢驗長期變化的,全局性趨勢的影響(即趨勢面分析)時使用。一般選三次擬合。
3、局部多項式內插
多個多項式,每個多項式處在特定重疊的鄰近區域內。不是精確內插。
當需要建立平滑表面且確定變量的小范圍的變異時可以使用。能描述數據集中含有的短程變異。更多地用來解釋局部變異。
4、徑向基函數
包括平面樣條函數、張力樣條函數、規則樣條函數、高次曲面函數、反高次曲面樣條函數五種。
適用於表面變化平緩的表面。
當在較短的水平距離內,表面發生較大變化,或者無法確定采樣點數據的准確性,或者采樣數據具有較大不確定性時,不適用。