DFT
1.Boundary scan Boundary Scan就是我们俗称的边界扫描。Boundary Scan是上世纪90年代由 Joint Test Action Group（JTAG）提出的，它的 ...
原文：DFT
DesignFortestability DFT Design for Test :可测试性设计 DFT 是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。电路测试有时并不容易， 这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构，例如扫描链等，内部信号可以暴露给电路外部。 总之，在设计阶段添加这些结构虽然增加了电路的复杂程度，看似增加 ...
2020-08-30 15:12 0 593 推荐指数：
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