SOC中的DFT和BIST对比与比较-IC学习笔记(二)
ATE:ATE是Automatic Test Equipment的缩写,根据客户的测试要求、图纸及参考方案,采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台,利用TestStand&La ...
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都是一些细节性问题,放在一起记忆,一问一答的形式,有任何问题欢迎文章上方微博讨论,多思多想。 1、What makes the difference between Run time and C ...