原文:DFT 問答(轉)

Q:Boundary Scan是什么 應用場景是什么 實現的方法是什么 挑戰是什么 A:Boundary Scan就是邊界掃描,是由Joint Test action Group起草的規范,最初是為了解決板級芯片之間的互聯測試的問題,實現方法就是在芯片內部的每個I O上面加上一個Boundary Scan cell用於控制和觀測每個I O的狀態,然后把每個I O的bscell串連起來交由TAP控制 ...

2020-09-11 14:51 0 989 推薦指數:

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DFT 問答 III

1.Boundary scan Boundary Scan就是我們俗稱的邊界掃描。Boundary Scan是上世紀90年代由 Joint Test Action Group(JTAG)提出的,它的 ...

Sat Sep 07 19:40:00 CST 2019 0 614
DFT 問答 I

Q: Boundary Scan是什么?應用場景是什么?實現的方法是什么?挑戰是什么? A: Boundary Scan就是邊界掃描,是由Joint Test action Group起草的規范,最 ...

Sat Sep 07 18:06:00 CST 2019 1 394
DFT

  Design For testability   DFT(Design for Test):可測試性設計(DFT)是一種集成電路設計技術,它將一些特殊結構在設計階段植入電路,以便設計完成后進行測試。電路測試有時並不容易,   這是因為電路的許多內部節點信號在外部難以控制和觀測 ...

Sun Aug 30 23:12:00 CST 2020 0 593
DFT

1.Boundary scan Boundary Scan就是我們俗稱的邊界掃描。Boundary Scan是上世紀90年代由 Joint Test Action Group(JTAG)提出的,它的 ...

Fri Sep 11 22:58:00 CST 2020 0 444
DFT小講座之6_ATE測試掃盲

TE【1】從設計流程上來說,是DFT的客戶。DFT邏輯設計的合理性,有效性乃至便捷性都需要通過TE的最終真刀實槍的上了機台才見分曉。 可以說TE是檢測DFT成績的最直接部門。 無論哪行哪業,要想做到出色,了解客戶的需求是繞不開的一個大項。作為DFTer ...

Thu Jan 31 00:46:00 CST 2019 0 728
DFT介紹

1. 可測試性特點 可控性:能夠設定某些電路節點到某種狀態或邏輯值 可觀察:能夠觀測芯片內部節點的狀態或邏輯值 2. 如何測試 1)建立模型 電路建模(circuit mo ...

Tue Sep 04 22:57:00 CST 2018 0 1022
DFT與IDFT

】https://blog.csdn.net/mingzhuo_126/article/details/88044390 二.編程實現考濾到DFT和IDFT算法過程中有部分相似,可以把它們合成到一個算法。 下面驗證此算法,對X(n ...

Tue Nov 19 21:21:00 CST 2019 0 283
 
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