數字集成電路物理設計學習總結——時鍾樹綜合
ps:字丑，禁止轉載！！！ ...
原文：數字IC后端時鍾樹綜合專題（OCC電路案例一）
一.OCC緣由 何為全速測試 at speed test ：在工藝節點在 nm以下的時候，很多情形下的物理缺陷都是由於延時來引起的。 因此在對這種類型的chip做dft的時候，需要建立一個新的故障模型，業內稱之為延時故障模型 time delay model 。 解決的方法就是全速測試，所謂的全速測試就是讓芯片工作在自己高倍時鍾頻率上，這個頻率往往是要高過ATE的時鍾的。 這樣對掃描模型的建立就提 ...
2020-04-07 15:48 0 2702 推薦指數：
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