原文:邊界掃描(boundary scan)

邊界掃描 Boundary scan 是一項測試技術,是在傳統的在線測試不在適應大規模,高集成電路測試的情況下而提出的,就是在IC設計的過程中在IC的內部邏輯和每個器件引腳間放置移位寄存器 shift register .每個移位寄存器叫做一個CELL。這些CELL准許你去控制和觀察每個輸入 輸出引腳的狀態。當這些CELL連在一起就形成了一個數據寄存器鏈 Data Register Chain , ...

2019-04-24 16:29 0 1044 推薦指數:

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VLSI測試方法學和可測試設計 第7章 邊界掃描

掃描路徑法擴展到整個板級或系統級,此即邊界掃描法(boundary scan)。邊界掃描法是把掃描路徑法擴展到整個板級或系統級,同掃描路徑法類似,基於邊界掃描設計法的元器件的 所有與外部交換的信息(指令、測試數據和測試結果)都采用串行通信方式,允許測試指令及相關的測試數據串行送給元器件 ...

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halcon-boundary提取邊界

在HDevelop中 4.jpg 參數3是'outer' 參數3是'inner_filled' 在QtCreator中 ...

Mon Feb 21 18:55:00 CST 2022 0 944
IC 設計中DFT的Boundary Scan功能

在很大規模的IC設計中,往往會有一些各種各樣的bug出現,不論是在前期design的過程,還是在post silicon流片回來chip的flaw,都會導致chip的功能的失敗,時鍾頻率無法達到期望頻 ...

Thu Apr 25 00:07:00 CST 2019 0 683
redis scan掃描

1.查詢redis 數據庫有多少key可以使用 keys 或者scan keys pattern 時間復雜度為O(n),會遍歷所有的key, 造成redis服務阻塞, 線上不可接受 2.scan curson match pattern count ...

Fri Mar 08 01:45:00 CST 2019 0 1200
context:component-scan 注解的掃描

<context:component-scan base-package="com.matt.cloud"/> bean-context中 spring.handlers文件 http\://www.springframework.org/schema/context ...

Wed Dec 11 08:18:00 CST 2019 0 398
掃描算法(SCAN)——磁盤調度管理

原創 上一篇博客寫了最短尋道優先算法(SSTF)——磁盤調度管理:http://www.cnblogs.com/chiweiming/p/9073312.html 此篇介紹掃描算法(SCAN)——磁盤調度管理,與上一篇的代碼有類似的片段,但較最短尋道優先算法難。 (題目闡述看上一篇博客 ...

Wed May 23 03:34:00 CST 2018 0 6472
 
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