原文:DFT測試-OCC電路介紹

SCAN技術,也就是ATPG技術 測試std logic,主要實現工具是:產生ATPG使用Mentor的TestKompress和synopsys TetraMAX 插入scan chain主要使用synopsys的DFT compiler。通常,我們所說的DCSCAN就是normal scan test即慢速測試,測試頻率是 M M ,AC SCAN也就是at speed scan即實速測試, ...

2018-12-03 21:43 0 3567 推薦指數:

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DFT測試-OCC電路介紹

https://www.jianshu.com/p/f7a2bcaefb2e   SCAN技術,也就是ATPG技術-- 測試std-logic, 主要實現工具是:   產生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX;   插入scan ...

Mon Oct 21 06:05:00 CST 2019 0 791
DFT介紹

1. 可測試性特點 可控性:能夠設定某些電路節點到某種狀態或邏輯值 可觀察:能夠觀測芯片內部節點的狀態或邏輯值 2. 如何測試 1)建立模型 電路建模(circuit modeling) 故障建模(fault modeling) 2)ATPG ...

Tue Sep 04 22:57:00 CST 2018 0 1022
DFT scan chain 介紹

現代集成電路的制造工藝越來越先進,但是在生產過程中的制造缺陷也越來越難以控制,甚至一顆小小的 PM2.5 就可能導致芯片報廢,為了能有效的檢測出生產中出現的廢片,需要用到掃描鏈測試(scan chain),由此產生了可測性設計即 DFT flow。 注意scan ...

Mon Aug 16 01:45:00 CST 2021 0 252
MBIST DFT測試概念

參考博文:https://blog.csdn.net/fengxiaocheng/article/details/80904573 和 https://blog.csdn.net/u011729865/article/details/52756474 三種基本的測試(概念來自參考文檔): 1. ...

Wed Nov 28 03:40:00 CST 2018 0 4036
數字IC后端時鍾樹綜合專題(OCC電路案例一)

一.OCC緣由 何為全速測試(at speed test):在工藝節點在130nm以下的時候,很多情形下的物理缺陷都是由於延時來引起的。 因此在對這種類型的chip做dft的時候,需要建立一個新的故障模型,業內稱之為延時故障模型(time delay model)。 解決的方法就是全速 ...

Tue Apr 07 23:48:00 CST 2020 0 2702
什么是可測試性需求(DFT)?

深圳市共創力資深顧問 楊學明/文 由於市場及產品用戶對產品質量的要求越來越高, 各大企業加強了對產品可測試性需求的收集和控制,本文用於指導TSE及系統設計人員進行可測試性需求分析活動。 目前可測性需求一般有以下幾方面的考慮: 1、面向產品的可測性需求,是為了提高 ...

Fri Oct 09 19:37:00 CST 2020 0 2125
DFT

  Design For testability   DFT(Design for Test):可測試性設計(DFT)是一種集成電路設計技術,它將一些特殊結構在設計階段植入電路,以便設計完成后進行測試電路測試有時並不容易,   這是因為電路的許多內部節點信號在外部難以控制和觀測 ...

Sun Aug 30 23:12:00 CST 2020 0 593
DFT

1.Boundary scan Boundary Scan就是我們俗稱的邊界掃描。Boundary Scan是上世紀90年代由 Joint Test Action Group(JTAG)提出的,它的初衷是為了解決在PCB上各個大規模集成電路間的信號互聯測試需求,所以往往也被叫做JTAG(JTAG ...

Fri Sep 11 22:58:00 CST 2020 0 444
 
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