什么是可測試性需求（DFT）?
深圳市共創力資深顧問 楊學明/文 由於市場及產品用戶對產品質量的要求越來越高, 各大企業加強了對產品可測試性需求的收集和控制，本文用於指導TSE及系統設計人員進行可測試性需求分析活動。 目前可測性需求一般有以下幾方面的考慮: 1、面向產品的可測性需求，是為了提高 ...
原文：DFT，可測試性設計--概念理解
工程會接觸DFT。需要了解DFT知識，但不需要深入。 三種基本的測試 概念來自參考文檔 ： . 邊界掃描測試：Boundary Scan Test: 測試目標是IO PAD，利用JTAG接口互連以方便測試。 jtag接口，實現不同芯片之間的互連。這樣可以形成整個系統的可測試性設計 . 內建自測試BIST: 模擬IP的關鍵功能，可以開發BIST設計。一般情況，BIST造成系統復雜度大大增加。memo ...
2017-07-10 21:49 0 5012 推薦指數：
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