DFT
Design For testability DFT(Design for Test):可測試性設計（DFT）是一種集成電路設計技術，它將一些特殊結構在設計階段植入電路，以便設計完成后進行測試。電路測試有時並不容易， 這是因為電路的許多內部節點信號在外部難以控制和觀測 ...
原文：DFT設計緒論
DFT設計的主要目的是為了將defect free的芯片交給客戶。 產品質量，通常使用Parts Per million PPM 來衡量。 但是隨着IC從SSI到VLSI的發展，在test上花銷的時間越來越多，test的quality卻很難提高，這使得DFT的engineer不斷的發展着DFT的技術。 DFT engineer面對的第一個問題是設計內部的狀態的可測試性問題。在 年間，提出了ad h ...
2016-06-22 19:42 2 3724 推薦指數：
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