轉載
https://blog.csdn.net/tfslovexizi/article/details/88733291
定義：主要是針對車載應用，汽車零部件，汽車車載電子實施標准規范，建立質量管理控制標准，提高車載電子的穩定性和標准化。預防可能發生各種狀況或潛在的故障狀態，對每一個芯片進行嚴格的質量與可靠度確認，特別對產品功能與性能進行標准規范測試。
在AEC-Q100文件中,定義出以下幾類不同任務的測試群組:：
測試組 A: 加速環境應力測試(針對芯片產品)Accelerated Environment Stress Tests;
測試組 B: 壽命加速模擬測試 (針對芯片產品/IP/工藝庫) Accelerated Lifetime Simulation Tests;
測試組 C: 封裝完整性測試(針對芯片產品)Package Assembly Integrity Tests;
測試組 D: 工藝可靠性測試(針對Foundry廠) Die Fabrication Reliability Tests;
測試組 E: 電氣可靠性測試(針對芯片產品/IO庫) Electrical Verification Tests;
測試組 F: 缺陷篩選測試(針對芯片產品)Defect Screening Tests;
測試組 G: 封裝過程后的封裝完整性測試(針對芯片產品)Cavity Package Integrity。
每一個測試群組會再細化定義出幾項測試項目,並說明這些測試項目的測試理論參考何項半導體業界所使用的認證規范(例如: JEDEC、MIL-STD883、SAE或者AEC-Q100本身所定義並且於附件里所定義的規則);每一個測試項目也同時會定義測試樣品單一批次數量、測試批次量以及判斷合格標准,若有額外的規范也會定義在每一項測試規范當中。
首先ACE-Q100對汽車零件工作溫度等級定義如下：
0等級：環境工作溫度范圍-40℃-150℃
1等級：環境工作溫度范圍-40℃-125℃
2等級：環境工作溫度范圍-40℃-105℃
3等級：環境工作溫度范圍-40℃-85℃
4等級：環境工作溫度范圍0℃-70℃
AEC-Q100是由美國汽車電子協會AEC所制定的規范,主要是針對車載應用的集成電路產品所設計出的一套應力測試標准,此規范對於提升產品信賴性品質保證相當重要。
————————————————
版權聲明：本文為CSDN博主「護士leo」的原創文章，遵循CC 4.0 BY-SA版權協議，轉載請附上原文出處鏈接及本聲明。
原文鏈接：https://blog.csdn.net/tfslovexizi/article/details/88733291