在搜索引擎里搜索 DIY SMU，就可以找到這個鏈接：Dave Erickson DIY SMU Source Measure Unit Project (djerickson.com)
里面有詳細的DIY SMU的資料，同時還有一個SMU的仿真電路。為了能夠與V/I源的基本原理講述的結構對應的上，左側是修改后的仿真電路布局。
網上可以搜索到Acco的ATE的應用文集，里面提到的V/I源的基本框架如下圖所示：
可以看到，SMU和V/I源是相同的原理。這里也提供一下這個原理框圖的可仿真電路，並演示一下仿真波形，可以和上圖對比一下。
SMU實際和V/I源還是有一些差別的，SMU的精度更高，通常是單個通道的，也就是只有一路輸出測量單元。而ATE的V/I源通常精度比SMU低一些，但是測試速度更快，且對各種不同負載的適應性更強，通常是多個通道的，也就是一個板上會有多個輸出測量單元。
DIY SMU的網站上提供了完整的資料，有興趣的讀者可以前去看看。如今集成電路已經成為一級學科，而SMU和V/I源是集成電路測試的重要電路單元結構，感興趣的讀者可以深入了解一下。
SMU通常用於WAT測試機，Wafer Acceptance Testing，是測試晶圓的，在晶圓經過一些列的光學、化學操作之后，上面就堆疊了集成電路。而WAT測試，就是測試各個測試點之間的電阻，電容，漏電流等參數，這樣，在不關心其內部原理的情況下，與正常的晶圓對比，判斷其內部的結構是否正常，也就是更多的關心的是物理結構的影響，用於檢驗生產工藝是否合格，並不關心集成電路是否可以正常工作，所以電流范圍和電壓范圍通常不大，從pA到幾A，從uV到幾十V。
而V/I源用於ATE測試機，Auto Test Equipment，則是用於測試集成電路的功能以及電參數是否正常，ATE也用於Wafer測試(通常晶圓直接切割應用)，或者封裝之后測試，確保集成電路可以正常工作。所以V/I源的種類更多，電壓和電流的范圍更大，從nA到kA，電壓同樣從mV到kV。
從這些基本原理看來，SMU或者V/I源並沒有用到什么高深的內容，並沒有超出模擬電路的范圍，基本的誤差放大電路(偶爾包含微分積分電路)，差分放大電路，精密鉗位電路，功率放大電路，加法或者減法電路。當然，實際上並沒有這么簡單，否則也不會在當前高端的WAT或者ATE都是進口設備了。
謹以此文，拋磚引玉，希望更多人能認識和了解集成電路測試設備，更多人參與到國產集成電路測試設備的應用和研發之中。