設置掃描類型(Sweep Type)
對於需要考慮其變化對電路特性影響的那些元器件參數，單擊該參數所在行對應Sweep Type的單元格，將彈出掃描類型選擇的下拉菜單，A42MX16-FPL84列出可供選擇的4種掃描類型(見圖6-84)。
①Discrete：表示在掃描分析過程中為元器件參數指定幾個確定數值；
②Linear：表示在掃描分析過程中元器件參數按線性方式均勻變化；
③LogarithmicDec：表示參數按以10為底數的對數關系變化，即按數量級關系變化；
④LogarithmicOct：表示參數按以2為底數的對數芙系變化，即按成倍關系變化。
圖中顯示的是單擊電阻R3所在行對應Sweep Type的單元格並選擇Discrete的情況。 提示： “選擇掃描類型”這一步也可以與下面關於“設置參數掃描取值”介紹同時進行（參見圖6-85）。