24V低壓檢測電路 - 低壓檢測電壓(轉)


24V低壓檢測電路 - 低壓檢測電壓

 

參考:

ADC采樣工作原理詳解

 

使用單片機的ADC采集電阻的分壓

 

問題:

當ADC采集兩個電阻分壓后的電壓的時候,ADC轉換出來的電壓值和萬用表量出來的不一樣差異還挺大,但只要在采集點和GND之間跨接一個小電容(比如0.1uf)就解決問題了。這是啥原理?

N1:

分壓電阻的輸出阻抗太高;
ADC的采樣時間太短。

N2:

MCU的ADC,輸入首先是一個采樣電路,等效一個電子開關、串聯電阻、采樣保持的負載電容。
在采樣時間內,外部信號源,信號源內阻,采樣電阻內阻,對采樣電容充電。
要采樣准確,需要采樣時間足夠,內阻R和C的時間常數足夠小。
要么加大采樣時間,要么減少內阻。
如果在信號源(分壓電阻處)上並聯電容,相當於減少了信號源的內阻。

N3:

分壓后電壓,最高不能超過參考電壓,最好又靠近參考電壓,比如70-90%,以提高精度。一般MCU的ADC輸入要求信號源內阻小於10K,降低信號源的內阻。對於功耗有要求的,比如分壓電阻幾百K到1M的,必須要要加電容,降低ADC誤差。

N4:

並非加電容就是“濾波”,此處電容的作用主要是:讓ADC在采樣時可以由外部電容提供足夠的電荷“瞬間”轉移到內部的采樣電容上。
若“濾波”,通常是為了防止混疊。


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