【轉載】http://www.hudong.com/wiki/BIST
Built-inSelfTest簡稱BIST是在設計時在電路中植入相關功能電路用於提供自我測試功能的技術，以此降低器件測試對自動測試設備（ATE）的依賴程度。BIST是一種DFT（DesignforTestability）技術，它可以應用於幾乎所有電路，因此在半導體工業被廣泛應用。舉例來說，在DRAM中普遍使用的BIST技術包括在電路中植入測試圖形發生電路，時序電路，模式選擇電路和調試測試電路。BIST技術的快速發展很大的原因是由於居高不下的ATE成本和電路的高復雜度。現在，高度集成的電路被廣泛應用，測試這些電路需要高速的混合信號測試設備。BIST技術可以通過實現自我測試從而減少對ATE的需求。
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BIST測試SRAM時要必須保證對所有端口可控
一個正常的SRAM一般包含如下幾類端口：
Clock(Read/Write Clock)
Chip Select(Chip Enable)
Data (Input Data / Output Data)
Write Enable / Read Enable
Test Port
Bypass Enable
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不同的工藝廠商給出的SRAM不一定都含有上述的端口。有些SRAM可能不包含Test Port 和 Bypass Enable。
在BIST對SRAM進行測試的時候，由於SRAM的每個端口都有特定的含義，所以，