Halcon18新技術

一、Halcon新特性介紹

　　分為Halcon Progress和Halcon Steady兩類：

　　Progress：發布周期短（半年），更早拿到最新技術，訂閱購買模式

　　Steady：發布周期長（2年），長期支持服務，標准購買模式

1. 偏折法

　　17.12版本：適用於強發光下進行缺陷檢測

　　18.05版本：也可用於弱反光下的缺陷檢測

　　為了解決帶有鏡面反射的物體表面上例如凹陷和划痕檢測所帶來的挑戰，HALCON 現在提供基於偏折法原理的視覺檢測方法。該方法利用了鏡面反射原理，通過觀察已知圖案在目標物體表面上的鏡像圖像及其變形來實現：

　　結構光的概念

　　結構光背后的基本概念是將已知圖案顯示在顯示器上。  這些圖案擊打物體表面后有助於進一步分析表面。要使用結構光，必須首先使用create_structured_light_model創建模型。 該模型類型在ModelType中指定。 目前，僅支持模型類型'Deflectometry’。 Deflectometry是從鏡面或半鏡面分析已知圖案反射的程序。 在這樣一個設置，對於投影在屏幕上的每個圖案圖像，獲取反射的照相機圖像。變形在相機圖像中的圖案暗示了鏡面上的缺陷。

注意：該顯示器為普通的顯示器即可，但是不能被投影儀所替代

　　具體實現

　　1、准備工作（得到結構光圖像）

　　create_structured_light_model-》set_structured_light_model_param-》gen_structured_light_pattern

       2、結構光圖像在顯示器上顯示，並用相機采圖

　　3、解析相機菜到的結構光圖像

　　set_structured_light_model_param（設置min_gray_difference）-》decode_structured_light_pattern-》get_structured_light_object（得到correspondence_image）

        4、得到缺陷圖像

　　set_structured_light_model_param（設置derivative_sigma）-》get_structured_light_object（得到defect_image）

2.文本自動識別

　　17.12版本后可支持文本自動，輸入圖像+相關參數可直接識別出字符

3.HDevEngine

　　對HDevelop庫導出功能進行了擴展：開發人員可通過導出的打包文件(exported wrapper)在C++或者.Net中調用Hdevelop程序

4.新標定模型

　　可校正通過360度鏡頭拍攝帶來的圖像失真，這種鏡頭可以同時對一個物體的多個側目進行成像，從而得到測試物體的會聚視圖

　　　Calibrate_cameras_hypercentric.hdev

5.一維碼識別

　　增加了對線寬非常小的以及極為模糊的條形碼的讀取能力

6.3D點雲的表面融合

　　將多個3D點雲融合到一個均勻的重采樣點雲表面

7.改進的3D表面匹配功能

8.自動句柄管理功能

二、3D視覺技術原理分類

主要分為被動光雙目、主動光雙目、激光三角測量法、結構光原理、TOF原理五類

被動光雙目：兩個相機+視差；優點是可拍運動的物體，也可拍靜止的物體，缺點是需要要求有好的對比度

主動光雙目：原理同被動光雙目，增加一些紋理光，缺點是僅適用於靜止的產品，精度為mm級別

激光三角測量法：用於在線三維測量，近距離高速測量。

結構光測量法：相機+投影儀

TOF：可用於大視野，低精度測量，缺點是由於光源采用LED近紅外光，受環境干擾.

(通過給目標連續發送光脈沖，然后用傳感器接收從物體返回的光，通過探測光脈沖的飛行（往返）時間來得到目標物距離。這種技術跟3D激光傳感器原理基本類似，只不過3D激光傳感器是逐點掃描，而TOF相機則是同時得到整幅圖像的深度信息)