Android電池電量跳變

高通平台8916/8917

對於第三方Fuel Gauge,跳變多是因為IC內部算法的問題，這樣我們可以通過驅動來規避。

例如：usb在位時，要阻止電量的向下跳變。

　　　當電量越級跳變時，要在驅動中能檢測到。

 

問題情形：
1.電量跳變到50%或偏差過大
2.電池ID腳接地
3.溫度腳來判斷電池是否在位

推測原因：
判斷電池在位的方法：

qpnp-linear-charger.c
enum bpd_type{
　　BPD_TYPE_BAT_ID="bpd_id",
　　BPD_TYPE_BAT_THM="bpd_thm",
　　BPD_TYPE_BAT_THE_BAT_ID="bpd_thm_id",
}

先在設備樹查找bpd是否有值

of_property_read_string(chip->spmi->dev.of_node,"qcom,bpd-detection",&bpd)

找不到的話,用代碼的定義（通過溫度腳判斷）

chip->cfg_bpd_detection = BPD_TYPE_BAT_THM;

把參數配置到結構體中。
計算電池容量：

get_prop_capacity(struct qpnp_lbd_chip *chip)

如果電池不在位並且或為假電池，返回默認電量（50）
電池在位檢測函數：（調用流程）

get_prop_batt_present(struct qpnp_lbc_chip *chip)
->qpnp_lbc_read(chip,chip->bat_if_base+BAT_IF_PRES_STATUS_REG【0x08】,&reg_val,1)
->__qpnp_lbc_read(spmi,base,val,count)
->spmi_ext_register_read(spmi->ctrl,spmi->sid,base,val,count)
->spmi_read_cmd(ctrl,SPMI_CMD_EXT_READL,sid,addr,len-1,buf)
->ctrl->read_cmd(ctrl,opcode,sid,addr,bc,buf)
溫度檢測函數：

get_prop_batt_temp(struct qpnp_lbc_chip *chip) 

如果是假電池並且電池不在位，返回默認溫度

qpnp_vadc_read(chip vadc_dev,LR_MUX1_BATT_THEM,&results)

如果讀取失敗，返回默認溫度
->if(channel==VBAT_SNS)
讀電壓

qpnp_vadc_conv_seq_request(vadc,ADC_SEQ_NONE,channel,result)

讀溫度

qpnp_vadc_conv_seq_request(vadc,ADC_SEQ_NONE,DIE_TEMP,&die_temp_result)

讀補償

qpnp_vbat_sns_comp(&result->physical,vadc,die_temp_result.physical)

最后返回

qpnp_vadc_con_seq_request(vadc,ADC_SEQ_NONE,channel,result)

此項目通過軟件計算電量，沒有專用的電量計芯片
計算電量的要素：溫度 電壓 電流
虛擬電量計 qpnp-vm-bms.c
所以一旦溫度采集不准，必導致電量百分比計算錯誤