硬件工程師筆試常見問題


硬件筆試常見的問題本篇博客來說說硬件開發的筆試或者面試。

         面試主要是基於項目的,所以在這里不過多討論,看自己的項目經驗了。

        筆試題目,硬件筆試包含的內容還是比較多的,有FPGA,C語言,信號系統知識,數電模電、電路分析、高頻電路、PCB設計,通信原理等。在這里盡可能列舉硬件筆試可能會出現的題目。

   以下回答為筆者杜撰,未必正確,歡迎大家一同討論。

硬件筆試常見的問題PCB的兩條走線過長平行走線會引起什么后果?

硬件筆試常見的問題從信號完整性方面來考慮,過長的走線耦合增強,串擾的本質在於耦合,所以過長平行走線會引起串擾,可能會引起誤碼操作。

硬件筆試常見的問題常見的組合邏輯電路有哪些?

硬件筆試常見的問題加法器,數據選擇器,數據輸出器,編碼器,譯碼器,數值比較單元,算數邏輯單元。

硬件筆試常見的問題存儲器有哪些構成?

硬件筆試常見的問題存儲陣列,地址譯碼器和輸出控制電路。

硬件筆試常見的問題鎖相環電路的基本構成?

硬件筆試常見的問題分頻器、鑒頻鑒相器、環路濾波器、壓控振盪器。

硬件筆試常見的問題RS232和RS485的主要區別?

硬件筆試常見的問題RS232是利用傳輸線與公共地之間的電壓差傳輸信號,RS485是利用傳輸線之間的電壓差作為傳輸信號,由於電壓差分對的存在,可以很好的抑制共模干擾,所以RS485傳輸更遠。

硬件筆試常見的問題驅動蜂鳴器的三極管工作在哪個區,若是做反相器呢

硬件筆試常見的問題由於單片機等其他MCU IO輸出的電流比較小,大概在幾十個mA以下,所以為了驅動需要電流較大的器件,需要額外的器件。驅動蜂鳴器利用三極管,使其工作在放大區。利用三極管的飽和和截止特性,可以做反相器,作為開關使用。

硬件筆試常見的問題四層板信號分布是怎么樣的,才能使EMC降低

硬件筆試常見的問題對於常用的4層板信號分布是,信號層–地層(電源層)—電源層(地層)—信號層。這樣設置的原則是(1)電源層和地層相鄰,可以耦合電源的噪聲,降低因電源抖動對器件的影響。(2)頂層和底層都有相應的參考層,可以良好的達到信號阻抗要求。(3)因兩個信號層都有參考層,所以都有各自的參考回流路徑,可以降低EMI。

硬件筆試常見的問題分析競爭與冒險如何產生的以及如何避免?

硬件筆試常見的問題信號經過邏輯門電路都需要要一定的時間,不同的傳輸路徑上門電路數量不一樣或者門電路數量一樣,但每個門電路的延遲時間不一樣,使得與穩態下得到的邏輯功能不一致,產生錯誤的輸出。到達的時間不一致稱為競爭,產生的毛刺稱為冒險。

硬件筆試常見的問題解決辦法:1.增加選通電路;2.芯片外部添加電容;3.增加布爾式的消去項;

硬件筆試常見的問題傳輸線幾個重要的經驗公式

硬件筆試常見的問題對於傳輸線上任何串聯連接都有電容參數,為了使其不產生對信號線變緩趨勢,需要滿足 C < 4 *RT。對於傳輸線上任何串聯連接都有電感參數,為了使其不產生尖峰信號,需要滿足 L < 0.2 * Z0 *RT。

硬件筆試常見的問題AD電路中,濾波為什么采用磁珠濾波,而不是電感

硬件筆試常見的問題良好的濾波電路對AD器件影響是較大,噪聲大,可能會引起誤碼操作。磁珠濾波是吸收噪聲,轉化成熱,電感濾波時反射噪聲,並沒有消除噪聲。

硬件筆試常見的問題解釋一下電感,磁珠和電容濾波原理

硬件筆試常見的問題磁珠濾波是吸收噪聲磁珠的等效形式為電抗(電感) + 電阻,在低頻段,磁珠表現為感性,反射噪聲,在高頻段表現為阻性,吸收噪聲,並轉化成熱。所以選擇磁珠時需要考慮電路上的信號和噪聲所處的頻帶,盡量讓工作頻率高於磁珠的轉化頻率,處在阻性范圍。 對於磁珠的選擇需要考慮的方面:(1)考慮信號工作的頻帶范圍,好確定磁珠的選型,盡量讓其大於磁珠的轉換頻率;(2)直流電阻,選擇低Rdc,降低流過磁珠本身的損耗;(3)額定電流,選擇磁珠的額定電流盡量接近或者大於工作電流;(4)自諧振頻率,應選擇自諧振頻率較高的磁珠,因為工作頻率大於自諧振頻率時,會表現為電容特性,會迅速降低阻抗。

硬件筆試常見的問題電感濾波是反射噪聲,首先說一下電感的作用(1)通直流隔交流;(2)濾波;(3)阻礙電流的變化,維持電流的穩定。因為電感本身也有一定的阻抗,所以在大電流流過時需要考慮電感上的壓降,還要注意組成的LC高通或者低通濾波器,不要使其諧振頻率工作在器件本身的工作頻帶范圍內,否則會引起諧振,紋波變大。選擇電感時,其諧振頻率要高於工作頻率,當低於諧振頻率時,電感值保持穩定,高於諧振頻率時,不過增加到一定程度后不再增加,頻率在增加電感表現為電容性,會隨頻率增高而迅速減小。

硬件筆試常見的問題電容濾波是反射噪聲,電容的等效模型為電感+電容+電阻的串聯,在諧振頻率之前,電容表現為電容特性,隨着頻率增加,阻抗變小,但是隨着頻率超過工作頻率,會使得電容轉化為電感特性,隨着頻率的增加阻抗變大。電容的作用(1)通交流隔直流;(2)濾波,高頻噪聲的泄放通道;(3)續流池,維持電壓的穩定。電容有ESR和ESL特性,ESR表現為其內部有一定的電阻特性。ESL與電容的封裝尺寸有關,F = (ESL * C)^(-1/2)。對於ESL特性,所以在選擇電容濾波的時候,盡量不要選擇同一封裝不同容值,或者同一容值不同封裝,這對於濾波會有一定的作用,但是不明顯,濾波效果較好的是不同容值不同封裝類型,可以基本上濾波各個頻段的噪聲。 

           對於電容的選擇一般是 陶瓷電容 高頻,鉭電容一般是中頻,電解電容一般是低頻。容值越大的鉭電容其ESR值越小。

硬件筆試常見的問題3W,20H什么意思

硬件筆試常見的問題3W是相鄰走線中心距為標准線寬的3倍。H表示是電源層到底層的厚度,電源層相對於底層內縮20H,以吸收電源平面的輻射。

硬件筆試常見的問題狀態機中的摩爾和米莉有什么區別

硬件筆試常見的問題摩爾型狀態機只和狀態有關,米莉型不單單和當前狀態有關,還和輸入有關。

硬件筆試常見的問題基爾霍夫電流定律和電壓定律

硬件筆試常見的問題在集總電路中,對於任一結點,所有流出結點的支路電流代數和恆等於零。

硬件筆試常見的問題在集總電路中,對於任一回路,所有支路電壓代數和恆等於零。

硬件筆試常見的問題如何理解運放的虛短和虛斷

硬件筆試常見的問題虛短是本質,虛斷是派生。當然利用這兩個運放的性質,算是把運放當作理想運放看待,不過實際中應用兩個此性質計算出來的結果也相差無幾。

硬件筆試常見的問題虛短是由於運放的開環放大倍數往往很高,而運放的輸出往往是有限的,這樣會導致輸入的兩個引腳間的電位差很小,近似於等電位。稱為虛短。

硬件筆試常見的問題虛斷是由於運放的差模輸入電阻很高,流入的兩個輸入端的電流很小,近似於斷路,稱為虛斷。

硬件筆試常見的問題溫度對晶體管的影響

硬件筆試常見的問題當溫度升高時,對於輸入特性,即Vbe與Ib之間的特性,會使得輸入特性曲線左移。

硬件筆試常見的問題當溫度升高時,對於輸出特性,即Vce與Ic之間的特性,會使得輸出特性曲線上移。

硬件筆試常見的問題PDN網絡最根本原則

硬件筆試常見的問題當溫要使得各個芯片的電壓穩定,應使得PDN阻抗低於目標阻抗,PDN阻抗 ≤ 目標阻抗 = Vdd * ripple % / Itransient  = 2 * Vdd * Vdd  ripple % / P  。

硬件筆試常見的問題運放如何選擇,其中需要注意哪些參數

硬件筆試常見的問題運放選擇時需要注意以下幾個參數:

硬件筆試常見的問題共模抑制比(KCMR),帶寬,供電電壓,共模輸入范圍,輸入失調電壓(offset voltage),輸入失調電流(offset current),輸入偏置電流(bias current),壓擺率,溫漂。

硬件筆試常見的問題共模抑制比:放大差模信號的能力,抑制共模信號的能力,體現抵抗噪聲的能力。

硬件筆試常見的問題供電電壓:當進行小信號放大時,不能超過供電電壓的供電范圍,否則會產生信號的失真。

硬件筆試常見的問題共模輸入范圍:此參數絕對了輸入信號的范圍,一般共模輸入范圍在手冊中會有規定,比如VCC – 0.2V,-VCC + 0.2V等,若是超過此共模輸入范圍,也會使得信號失真。

硬件筆試常見的問題輸入失調電壓:在輸入電壓為0時,運放本應輸出電壓也為0V,但是由於運放內部不肯能絕對對稱,會有一定的電壓輸出,為了調節輸出為0時的電壓大小為失調電壓。一般失調電壓都在uV級別。

硬件筆試常見的問題輸入失調電流:在輸入電壓為0時,流入兩個輸入端電流的差值,這體現了運放的輸入級差分管的不對稱性,希望此失調電流越小越好。

硬件筆試常見的問題輸入偏置電流:流入運放兩輸入端的電流的均值  I = (Ibn + Ibp)/ 2。

硬件筆試常見的問題阻抗與哪些因素有關

硬件筆試常見的問題阻抗與介質厚度,線間距,線寬,銅厚,介電材料有關。

硬件筆試常見的問題其中與介質厚度和線間距成正比,主要是因為由瞬時阻抗可知Z = 83 * (根號下 介電常數) /CL,由於電容的值與導線距參考平面的高度成反比,所以,當導線距離參考平面比較近時,C變大,反之變小,所以Z的阻抗與介質厚度成正比,若介質厚度增大,則Z增大,反之亦然。經驗法則,厚度每增加1mil,特性阻抗減小2Ω。

硬件筆試常見的問題線間距主要是從自感和互感方面考慮,首先線間距越小,互感增強,自感減小,會導致回路電感減小,這也是差分信號為什么要挨近的原因。當間距變小時整個回路的電感減小,根據 阻抗和電感與電容之間的關系, Z = 根號下(L/C),所以假設導線距離參考平面距離不變的情況下,Z是減小的。所以阻抗Z與線間距成正比。

硬件筆試常見的問題介電材料,介電材料本身其實不會影響阻抗,但是介電材料會影響電容特性,電容與介電材料成正比,所以阻抗Z與介電常數成反比。

硬件筆試常見的問題銅厚與電感參量有關,銅厚與厚,電感的值越小,Z = 根號下(L/C),所以假設導線距離參考平面距離不變的情況下,Z是減小的。所以阻抗Z與銅厚成反比。

硬件筆試常見的問題線寬與電感參量和電容量有關,線越寬,L減小,由於C的值與線寬成正比(也就是橫截面面積增大),Z = 根號下(L/C),所以假設導線距離參考平面距離不變的情況下,Z是減小的。所以阻抗Z與線寬成反比。

            幾個重要性質,電感L與線間距,半徑成反比,與導線長度成正比。電容與介電常數,線寬成正比,與介質厚度成反比。

            電感L的公式可以參看相關的資料。

            C = 介電常數 * A / H。其中A為橫截面積,H為介質厚度。

            R = ρ/A,其中電阻與線寬是成反比,所以大面積鋪銅也是基於這個道理,使得回路阻抗盡可能小,減小地彈和壓降。

硬件筆試常見的問題傳輸線阻抗為什么是50Ω

硬件筆試常見的問題對於傳輸線,若是半徑選的太大,根據特性阻抗與L,R,C的關系,L會減小,C會增大,會導致特性阻抗變低,導致信號的衰減很大,權衡利弊,選50Ω時信號的衰減比較小。

硬件筆試常見的問題對於邏輯門電路的扇出數如何確定

硬件筆試常見的問題首先要確定兩個參數,第一個是噪聲容限,驅動門的高電平門限必須高於扇出門的高電平,驅動門的低電平門限必須小於扇出門的低電平。再者需要考慮拉電流和灌電流, 由拉電流參數確定 驅動門數為 N = IOH / IIH,由灌電流參數確定 驅動門數為 N = IOL / IIL,兩者取最小者為最大扇出數。

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