DFT scan chain 介绍
现代集成电路的制造工艺越来越先进，但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制，甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废，为了能有效的检测出生产中出现的废片，需要用到扫描链测试（scan chain），由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan ...
原文：Latch timing analysis, ICG usage, Latch usage in DFT scan chain
Latch应用总结 附Time Borrowing，Lockup，Clock Gating Check概念解析 The following article is from RTL GDSAuthor 老本 Benjamin RTL GDS 数字集成电路设计中从RTL到GDS Tapeout整个过程中的知识点系统性分享。包括：IC后端设计 物理设计 , 综合, STA, PV, DFT等。也会发表些 ...
2020-05-25 03:30 0 757 推荐指数：
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DFT scan chain
现代集成电路的制造工艺越来越先进，但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制，甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废，为了能有效的检测出生产中出现的废片，需要用到扫描链测试（scan chain），由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan test 只能检测出制造瑕疵 ...
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