SOC中的DFT和BIST對比與比較-IC學習筆記（二）
ATE：ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，根據客戶的測試要求、圖紙及參考方案，采用MCU、PLC、PC基於VB、VC開發平台，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術開發、設計各類自動化測試 ...
原文：IC 設計中DFT的Boundary Scan功能
在很大規模的IC設計中，往往會有一些各種各樣的bug出現，不論是在前期design的過程，還是在post silicon流片回來chip的flaw，都會導致chip的功能的失敗，時鍾頻率無法達到期望頻率。所以，在超大規模集成電路的設計中，DFT就是一門非常重要的方法學，在消費者手中，往往不知道他們的存在，但是在IC工程師眼中，DFT往往會是一個救命的稻草，讓我們在芯片出問題的時候，可以知道從哪下手 ...
2019-04-24 16:07 0 683 推薦指數：
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DFT scan chain
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