原文:【轉】DFT小講座之6_ATE測試掃盲

TE 從設計流程上來說,是DFT的客戶。DFT邏輯設計的合理性,有效性乃至便捷性都需要通過TE的最終真刀實槍的上了機台才見分曉。 可以說TE是檢測DFT成績的最直接部門。 無論哪行哪業,要想做到出色,了解客戶的需求是繞不開的一個大項。作為DFTer,了解TE的工作也是我們的必修課之一。 這一次, 我們很榮幸的請到了TE的資深團隊給我做一下TE的最重要的工作,ATE 測試的一個掃盲。 TIPS T ...

2019-01-30 16:46 0 728 推薦指數:

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DFT 問答()

Q: Boundary Scan是什么?應用場景是什么?實現的方法是什么?挑戰是什么? A: Boundary Scan就是邊界掃描,是由Joint Test action Group起草的規范,最初是為了解決板級芯片之間的互聯測試的問題,實現方法就是在芯片內部的每個I/O上面加上一個 ...

Fri Sep 11 22:51:00 CST 2020 0 989
MBIST DFT測試概念

參考博文:https://blog.csdn.net/fengxiaocheng/article/details/80904573 和 https://blog.csdn.net/u011729865/article/details/52756474 三種基本的測試(概念來自參考文檔): 1. ...

Wed Nov 28 03:40:00 CST 2018 0 4036
DFT測試-OCC電路介紹

https://www.jianshu.com/p/f7a2bcaefb2e   SCAN技術,也就是ATPG技術-- 測試std-logic, 主要實現工具是:   產生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX;   插入scan ...

Mon Oct 21 06:05:00 CST 2019 0 791
DFT測試-OCC電路介紹

  SCAN技術,也就是ATPG技術-- 測試std-logic, 主要實現工具是:產生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX;插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler。通常,我們所說的DCSCAN ...

Tue Dec 04 05:43:00 CST 2018 0 3567
什么是可測試性需求(DFT)?

深圳市共創力資深顧問 楊學明/文 由於市場及產品用戶對產品質量的要求越來越高, 各大企業加強了對產品可測試性需求的收集和控制,本文用於指導TSE及系統設計人員進行可測試性需求分析活動。 目前可測性需求一般有以下幾方面的考慮: 1、面向產品的可測性需求,是為了提高 ...

Fri Oct 09 19:37:00 CST 2020 0 2125
NCEP資料掃盲()

============================== · 美國國家環境預報中心(NCEP)和國家大氣研究中心(NCAR)聯合執行的全球大氣40年資料再分析計划通過CDC(Cl ...

Thu Jan 24 17:18:00 CST 2013 0 8721
DFT

  Design For testability   DFT(Design for Test):可測試性設計(DFT)是一種集成電路設計技術,它將一些特殊結構在設計階段植入電路,以便設計完成后進行測試。電路測試有時並不容易,   這是因為電路的許多內部節點信號在外部難以控制和觀測 ...

Sun Aug 30 23:12:00 CST 2020 0 593
DFT

1.Boundary scan Boundary Scan就是我們俗稱的邊界掃描。Boundary Scan是上世紀90年代由 Joint Test Action Group(JTAG)提出的,它的初衷是為了解決在PCB上各個大規模集成電路間的信號互聯測試需求,所以往往也被叫做JTAG(JTAG ...

Fri Sep 11 22:58:00 CST 2020 0 444
 
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