DFT，可測試性設計--概念理解
工程會接觸DFT。需要了解DFT知識，但不需要深入。 三種基本的測試（概念來自參考文檔）： 1. 邊界掃描測試：Boundary Scan Test: 測試目標是IO-PAD，利用JTAG接口互連以方便測試。（jtag接口，實現不同芯片之間的互連。這樣可以形成整個系統的可測試性設計） 2. ...
原文：MBIST DFT測試概念
參考博文：https: blog.csdn.net fengxiaocheng article details 和 https: blog.csdn.net u article details 三種基本的測試 概念來自參考文檔 ： . 邊界掃描測試 boundary scan test。測試目標是IO PAD，利用jtag接口互連以方便測試。 jtag接口，實現不同芯片之間的互連。這樣可以形成整個 ...
2018-11-27 19:40 0 4036 推薦指數：
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什么是可測試性需求（DFT）?
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