在很大規模的IC設計中,往往會有一些各種各樣的bug出現,不論是在前期design的過程,還是在post silicon流片回來chip的flaw,都會導致chip的功能的失敗,時鍾頻率無法達到期望頻率。所以,在超大規模集成電路的設計中,DFT就是一門非常重要的方法學,在消費者手中,往往不知道 ...
ATE:ATE是Automatic Test Equipment的縮寫,根據客戶的測試要求 圖紙及參考方案,采用MCU PLC PC基於VB VC開發平台,利用TestStand amp LabVIEW和JTAG Boundary Scan等技術開發 設計各類自動化測試設備。 BIST:BIST是在設計時在電路中植入相關功能電路用於提供自我測試功能的技術,以此降低器件測試對自動測試設備 ATE ...
2018-08-06 18:03 0 4303 推薦指數:
在很大規模的IC設計中,往往會有一些各種各樣的bug出現,不論是在前期design的過程,還是在post silicon流片回來chip的flaw,都會導致chip的功能的失敗,時鍾頻率無法達到期望頻率。所以,在超大規模集成電路的設計中,DFT就是一門非常重要的方法學,在消費者手中,往往不知道 ...
1)詳細說明對象的比較方式有哪些? ①對象引用的比較("= ="運算符) "= ="是將對象的引用進行比較,實質是比較兩個引用變量是否引用同一個對象。注意的點:字符串常量的比較時,JVM為同一個字符串常量只創建一個對象。 ②對象內容的比較(equals()方法) equals()方法是比較 ...
作者:gnuhpc 出處:http://www.cnblogs.com/gnuhpc/ #include "cv.h" #include "highgui.h" #include "cxcore ...
一、HDL的概念和特征 HDL,Hard Discrimination Language的縮寫,翻譯過來就是硬件描述語言。那么什么是硬件描述語言呢?為什么不叫硬件設計語言呢?硬件描述語言,顧名思 ...
從開始接觸soc到現在大概有兩年半左右的時間了,經歷了ORSOC到minsoc再到mkg-soc的搭建,以及現在的大小核系統的搭建 首先先講下學習的前期需要具備的知識,前面3點是必須,后面3點可以中間學習的過程再學習。之所以有這些要求主要是以防中間的學習過程中,有些東西看不懂而走彎路。 學習 ...
Design For testability DFT(Design for Test):可測試性設計(DFT)是一種集成電路設計技術,它將一些特殊結構在設計階段植入電路,以便設計完成后進行測試。電路測試有時並不容易, 這是因為電路的許多內部節點信號在外部難以控制和觀測 ...
一 前言 (一)自我嘮叨: 一直以來都是這也想學那也想學,搞個兩三個月又放棄了,開始搞新的,從來沒有任何東西超過一年,更不要說堅持三年。現在經歷的事情多了,學過各種編程語言明白了要想學會一個專業技能,至少是三年。得到軟件上吳軍老師,對於學習的原則為系統性學習,谷歌 ...
1.Boundary scan Boundary Scan就是我們俗稱的邊界掃描。Boundary Scan是上世紀90年代由 Joint Test Action Group(JTAG)提出的,它的 ...