DFT scan chain
现代集成电路的制造工艺越来越先进，但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制，甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废，为了能有效的检测出生产中出现的废片，需要用到扫描链测试（scan chain），由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan test 只能检测出制造瑕疵 ...
原文：DFT scan chain 介绍
现代集成电路的制造工艺越来越先进，但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制，甚至一颗小小的 PM . 就可能导致芯片报废，为了能有效的检测出生产中出现的废片，需要用到扫描链测试 scan chain ，由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan test 只能检测出制造瑕疵，无法检测芯片功能瑕疵。 在芯片功能设计完成后，整个网表是由一堆普通的寄存器和组合逻辑构成的。扫描链的插入就 ...
2021-08-15 17:45 0 252 推荐指数：
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