ATPG——自动测试pattern生成 Fault——电路或系统中可能会或不会导致系统故障的物理缺陷 Fault Model——表示物理缺陷影响的逻辑模型 一、Fault Model 1、stuck-at fault model 2、At-speed fault ...
Basic Scan 优先使用 速度极快,覆盖范围广,可进行全扫描 Fast Sequential 如果有需要使用 全扫描设计的覆盖范围更大 适用于memory周围的阴影逻辑 有限的no scan Full Sequential 最后使用 强大的引擎支持更复杂的设计 run atpg auto自动执行最好的结果 一 Basic Scan VS.Fast Sequential Basic Scan ...
2021-01-07 17:53 0 1165 推荐指数:
ATPG——自动测试pattern生成 Fault——电路或系统中可能会或不会导致系统故障的物理缺陷 Fault Model——表示物理缺陷影响的逻辑模型 一、Fault Model 1、stuck-at fault model 2、At-speed fault ...
一、ATPG Fundamentals 二、TetraMAX Flow Build Mode DRC Mode TEST Mode 三、SPF & Quick STIL 四、Faults and Coverage 五、ATPG 六、Fault ...
AT-SPEED Fault 两种Faults: STR --- Slow to Rise STF --- Slow to Fall 检测fault需要每个pattern需要两个向 ...
怎么生成EVCD文件? fault simulation after ATPG ...
write_pattern <filename> [ -replace ] [ -first <d>] [-last <d> ] ...
TetraMAX Overview TetraMax Flow TetraMax的启动 tmax [file] 如果要执行file直接跟file路径即可 ...
一、STIL Protocol文件基础结构 包含的内容: scan input和output的名称 哪些pin充当“clock” pins、clock、measures的时 ...
一、主要的fault分类 DT——Detected PT——Possibly Detected UD——Undetected AU——ATPG Untestable ND——Not Detected 使用set_faults -symmary verbose查看更详细的fault分类 ...