一、Scan Chain基础 二、基础Scan Insertion流程 三、Tester Timing 四、DFT Rules, DRC and AutoFix 五、UDTP 六、Scan Architecture 七、Clock Gating Cell Connection ...
set scan configuration 此命令用于指定扫描属性,例如:扫描方式 扫描链数或扫描链长度 处理多个时钟 lock up 扫描链中省略的寄存器。 set scan configuration style multiplexed flip flop I lssd lclocked scan aux clock lssd l combinational l none clock mix ...
2020-12-26 14:27 0 509 推荐指数:
一、Scan Chain基础 二、基础Scan Insertion流程 三、Tester Timing 四、DFT Rules, DRC and AutoFix 五、UDTP 六、Scan Architecture 七、Clock Gating Cell Connection ...
synopsys DFTMAX——Adaptive Scan 将原始的scan chain分割为更短的scan chain。较短的链条加载时间更少,并且更少的数据加载到测试仪上 1、DFTMAX &Test Mode 在典型的DFT MAX运行中,压缩和常规扫描模式 ...
UDTP(user defined test point) 指示DFTC在设计中用户指定的位置插入控制点和观察点 1.为什么要使用UDTP? 修复无法控制的clock和/或asynch pins ...
test_model | scan_enable -sequential_c ...
AT SPEED Test last_shift launch mode (低速测试) system_clock launch mode ( launch on capture) 1. ...
现代集成电路的制造工艺越来越先进,但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制,甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产中出现的废片,需要用到扫描链测试(scan chain),由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan ...
现代集成电路的制造工艺越来越先进,但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制,甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产中出现的废片,需要用到扫描链测试(scan chain),由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan test 只能检测出制造瑕疵 ...
keys 的操作会导致数据库暂时被锁住,其他的请求都会被堵塞;业务量大的时候会出问题 当需要扫描key,匹配出自己需要的key时,可以使用 scan 命令 java代码实现如下: 参考地址: Spring RedisTemplate实现scan ...