原文:scan chain的原理和实现——5.UDTP

UDTP user defined test point 指示DFTC在设计中用户指定的位置插入控制点和观察点 .为什么要使用UDTP 修复无法控制的clock和 或asynch pins 增加设计的测试覆盖率 减少pattern数量 .UDTP的类型 Force force force force force z force z force z Control control control c ...

2020-12-26 10:20 0 379 推荐指数:

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scan chain原理实现

一、Scan Chain基础 二、基础Scan Insertion流程 三、Tester Timing 四、DFT Rules, DRC and AutoFix 五、UDTP 六、Scan Architecture 七、Clock Gating Cell Connection ...

Sat Dec 26 02:15:00 CST 2020 1 553
scan chain原理实现——6.scan architecture

set_scan_configuration 此命令用于指定扫描属性,例如: 扫描方式、扫描链数或扫描链长度、处理多个时钟、lock-up、扫描链中省略的寄存器。 set_scan_configuration -style multiplexed_flip_flop I lssd l ...

Sat Dec 26 22:27:00 CST 2020 0 509
scan chain原理实现——11.Scan Compression

synopsys DFTMAX——Adaptive Scan 将原始的scan chain分割为更短的scan chain。较短的链条加载时间更少,并且更少的数据加载到测试仪上 1、DFTMAX &Test Mode 在典型的DFT MAX运行中,压缩和常规扫描模式 ...

Tue Dec 29 17:24:00 CST 2020 2 635
DFT scan chain 介绍

现代集成电路的制造工艺越来越先进,但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制,甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产中出现的废片,需要用到扫描链测试(scan chain),由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan ...

Mon Aug 16 01:45:00 CST 2021 0 252
DFT scan chain

现代集成电路的制造工艺越来越先进,但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制,甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产中出现的废片,需要用到扫描链测试(scan chain),由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan test 只能检测出制造瑕疵 ...

Fri Mar 29 23:51:00 CST 2019 0 3079
Redis SCAN命令实现有限保证的原理

SCAN命令可以为用户保证:从完整遍历开始直到完整遍历结束期间,一直存在于数据集内的所有元素都会被完整遍历返回,但是同一个元素可能会被返回多次。如果一个元素是在迭代过程中被添加到数据集的,又或者是在迭代过程中从数据集中被删除的,那么这个元素可能会被返回,也可能不会返回。 这是如何实现的呢,先从 ...

Mon Jul 29 19:36:00 CST 2019 0 1100
 
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