一、Scan Chain基础 二、基础Scan Insertion流程 三、Tester Timing 四、DFT Rules, DRC and AutoFix 五、UDTP 六、Scan Architecture 七、Clock Gating Cell Connection ...
UDTP user defined test point 指示DFTC在设计中用户指定的位置插入控制点和观察点 .为什么要使用UDTP 修复无法控制的clock和 或asynch pins 增加设计的测试覆盖率 减少pattern数量 .UDTP的类型 Force force force force force z force z force z Control control control c ...
2020-12-26 10:20 0 379 推荐指数:
一、Scan Chain基础 二、基础Scan Insertion流程 三、Tester Timing 四、DFT Rules, DRC and AutoFix 五、UDTP 六、Scan Architecture 七、Clock Gating Cell Connection ...
set_scan_configuration 此命令用于指定扫描属性,例如: 扫描方式、扫描链数或扫描链长度、处理多个时钟、lock-up、扫描链中省略的寄存器。 set_scan_configuration -style multiplexed_flip_flop I lssd l ...
synopsys DFTMAX——Adaptive Scan 将原始的scan chain分割为更短的scan chain。较短的链条加载时间更少,并且更少的数据加载到测试仪上 1、DFTMAX &Test Mode 在典型的DFT MAX运行中,压缩和常规扫描模式 ...
test_model | scan_enable -sequential_c ...
AT SPEED Test last_shift launch mode (低速测试) system_clock launch mode ( launch on capture) 1. ...
现代集成电路的制造工艺越来越先进,但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制,甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产中出现的废片,需要用到扫描链测试(scan chain),由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan ...
现代集成电路的制造工艺越来越先进,但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制,甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产中出现的废片,需要用到扫描链测试(scan chain),由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan test 只能检测出制造瑕疵 ...
SCAN命令可以为用户保证:从完整遍历开始直到完整遍历结束期间,一直存在于数据集内的所有元素都会被完整遍历返回,但是同一个元素可能会被返回多次。如果一个元素是在迭代过程中被添加到数据集的,又或者是在迭代过程中从数据集中被删除的,那么这个元素可能会被返回,也可能不会返回。 这是如何实现的呢,先从 ...